Читайте также:
|
|
Этот метод применим для поглощающих пленок, для которых комплексный показатель преломления полностью описывает оптические
свойства среды при заданной толщине пленки d:
= n - i × x
Метод позволяет определить n и x в широкой спектральной области на основе измерения одного из спектров – спектра отражения R(ν) или спектра пропускания T(ν), что выгодно отличает его от других методов, требующих большего числа измеряемых величин.
Комплексный коэффициент отражения на частоте ν может быть представлен в виде:
(ν)=[R(ν)] e , (2)
где R(ν) – измеряемое значение коэффициента отражения (по мощности) на частоте ν;
Ф(ν) – фаза комплексного коэффициента отражения. Фаза Ф и амплитуда R комплексного коэффициента отражения связаны между собой соотношением Крамерса-Кронига:
(3)
Оптические постоянные n и χ рассчитываются из формулы Френеля, которая, например для S -поляризации света имеет вид:
(4)
где q - угол падения света.
Таким образом, измерив спектр отражения R(ν) в диапазоне частот от ν1 до ν2 и экстраполируя функцию R(ν) за пределы диапазона измерений от ν1 до 0 и от ν2 до ∞, в соответствии с формулой (3) рассчитывают значения фазы Ф(ν) во всем спектральном диапазоне. Найденный таким образом комплексный коэффициент отражения на частях исследуемого диапазона (см (2)) используется для расчета n(n) и x (n) из выражения (4).
Погрешность в расчете n и x обусловлены экспериментальными погрешностями ΔR и Δθ при измерении коэффициента отражения и угла падения, а также погрешностью расчёта фазы Δφ сточником которой являются:
а) ограниченность интервала измерений n1÷n2 cвязанная с этим экстраполяция R(ν) за пределы области измерений;
б) наличие особой точки (ν = ν 0) подынтегральной функции в выражении (3).
В настоящее время имеется ряд различных способов экстраполяции R(ν), а также способы устранения необходимости экстраполяции за счет коррекции полученного при интегрировании в пределах от n1 до n2 решения. Например, функция n(ν) представляется в виде:
, (5)
где a, b, c, f – константы, которые определяются из условия миминизации величины δR, d - толщина пленки.
Погрешности значений n и x при этом снижается до 5% при погрешности
Измерений R ~1%.
3. Для поглощающей плёнки на прозрачной подложке разработан метод расчета оптических постоянных n(n) и x (ν) на основе экспериментальных спектров отражения R(ν) и пропускания T(ν). При учете многократного отражения света в плоскопараллельном слое пленки интерференции коэффициенты R и T на заданной частоте n выражаются:
(6)
где A, A', B, B', C, C', D, D' являются функциями n0, ns, n, x;
n0,ns – показатели преломления воздуха и материала подложки,
Метод расчета реализуется следующие образом. Задавая произвольнее значения n и x, рассчитывают в соответствии с формулами (6) значения Т и R, затем в координатах n, x строят кривых, соответствующих T = const и R = const. По экспериментальным значениям коэффициентов пропускания Tэксп и отражения Rэксп, выбирают соответствующую пару кривых Tэксп = const и Rэксп = const, по пересечению которых находят значение n и x. Преимущество метода состоят в относительной простоте расчета при достаточно полной модели (учитывается поглощение, многократное прохождение и интерференция излучения).
4. Для слабо поглощающих пленок применяется метод расчета оптических постоянных по спектральной интерференционной кривой коэффициента пропускания Т (или отражения R). К наиболее важным оптическим характеристикам пленки относятся пропускание τ, толщина t и показатель преломления n2:
(7), (8), (9)
где λ – длина волны, ń2 – комплексный показатель преломления, x – коэффициент поглощения.
Для проведения расчетов необходимо интерференционная кривая пропускания образца (пленки на подложке) в функции длинны волны λ (волнового числа ν). Обозначим показатели преломления последовательно расположенных сред: n1=ρ – для воздуха, n2 – для пленки, n3 – для подложки, n4 – для воздуха. Величина коэффициентов отражения R1 на границе 1,2 и R2 на границе 2,3 определяются следующим образом:
(10)
Пропускание интерференционного фильтра, таким является рассматриваемая система, в максимуме полосы равно:
(11)
где T max =T'max+T"max, (11’)
T' max – значение максимума пропускания по экспериментальной кривой T(ν);
T" max =R3 – (1 – T' max) R3 – слагаемое, учитывающее R3 – отражение на границе 3,4.
(13)
Оптическая толщина плёнок равна:
(14)
Где νn+1, νn – волновые числа соседних экстремумов на кривой T(ν). Контрастность С интерференционного фильтра определяется:
(15)
где T min =T' min +T" min, (15’)
T' min – значение минимума пропускания по экспериментальной кривой T(ν);
T" min =R3 – (1 – T' min) R3 – слагаемое, учитывающее отражение на границе 3,4.
Совокупность уравнений (11), (14), (15) являются системой, в результате решения которой определяются значения основных оптических параметров плёнки τ, t и n2. Последовательность вычислений искомых величин такова. Из формулы (15) выразим единственный независимый в ней показатель преломления n2, учитывая, что R1 и R2 в ней задаются формулами (10), T max – формулой (11’), T min – формулой (15’).
(17)
После расчета R1 и R2 по формулам (10) вычисляем τ, выражение для которогo получим из (12);
(18)
(19)
Толщина плёнки t определяется из (14), а затем на основе формул (7) и (8) рассчитываются значения k и x. Таким образом, все оптические константы плёнки рассчитаны.
Погрешность вычислений будет зависеть в основном от неточности представления величин R1 и R2 по формулам (10), не учитывающим поглощения в плёнке. Точная запись для коэффициентов отражения на границе 1,2 и R2 на границе 2,3 соответственно имеет вид:
(20)
Найдем: начиная с каких значений x относительная ошибка в определении R1'; превысит на перёд заданную величину γ1
(21)
Из (21) выразим x:
(22)
Дата добавления: 2015-08-05; просмотров: 212 | Нарушение авторских прав
<== предыдущая страница | | | следующая страница ==> |
Эллипсометрия. | | | Теоретическое введение |