Характеристика релізів

Вступ

Для оцінки надійності програмного забезпечення на практиці на етапі тестування використовуються різні моделі надійності. Однак, для того, щоб отримати адекватні оцінки потрібна певна кількість даних про відмови, які недоступні до тих пір, поки система не була протестована протягом досить довгого періоду часу. Це не завжди можливо, у зв'язку з чим виникає необхідність знайти рішення, що дозволяє обійти дане обмеження при моделюванні. Так, наприклад, в роботі Вохліна на прикладі моделі зростання надійності Goel - Okumoto висувається гіпотеза про можливість використання значення частоти виявлення дефектів (fault detection rate), розрахованої в ході попереднього релізу програмного продукту. Для того, щоб було можливо передбачити, що процес тестування стабільний: умови, методи і інструменти тестування незмінні. У статті Вохліна розглядається тільки один клас моделей зростання надійності: опуклі моделі.

У даному рефераті робиться спроба підтвердити гіпотезу, але для S-образної моделі зростання надійності Goel - Okumoto. Для підтвердження гіпотези були використані статистичні дані про виявлені в процесі тестування дефектах, зібрані протягом трьох релізів одного і того ж програмного продукту промислового масштабу.

Характеристика релізів

У таблицях 1, 2 і 3 представлені дані про виявлені дефекти в кожному з

релізів.

Дата добавления: 2015-07-15