Студопедия
Случайная страница | ТОМ-1 | ТОМ-2 | ТОМ-3
АрхитектураБиологияГеографияДругоеИностранные языки
ИнформатикаИсторияКультураЛитератураМатематика
МедицинаМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогика
ПолитикаПравоПрограммированиеПсихологияРелигия
СоциологияСпортСтроительствоФизикаФилософия
ФинансыХимияЭкологияЭкономикаЭлектроника

Термическая электронно-лучевая обработка.

Взаимодействие электронов с твёрдым телом. Механизмы торможения электронов в твёрдом теле. | Тормозная способность твёрдых тел при электронно-лучевой обработке. | Троекторный пробег электронов в твёрдом теле. | Глубина проникновения электронов в твёрдое тело. | Тепловое воздействие пучка электронов. | Wή – доля энергии, уносимой из твёрдого тела обратно рассеянными электронами, и определяется только значением η. | Распределение температуры при электронной обработке по поверхности и глубине твёрдого тела. | Кинжальное» проплавление. Электронно-лучевая сварка. | Тормозные способности ионов в твёрдом теле. | Глубина проникновения ионов в твердом теле. |


Читайте также:
  1. Кинжальное» проплавление. Электронно-лучевая сварка.
  2. Термическая обработка
  3. Электронно-лучевая сварка
  4. Электронно-лучевая трубка

К термической ЭЛО относят способы микрообработки, при которых в результате локального нагрева, плавления или испарения материала происходит перестройка структуры материала или изменение формы облучаемого участка. Среди ЭЛ способов обработки наибольшее распространение получила размерная обработка, где электронный луч используется в качестве режущего инструмента: получение отверстий или пазов с заданным профилем, бесконтактная резка дефицитных и трудно обрабатываемых материалов, фрезерование, полировка, рекристаллизация слоев полупроводниковых материалов.

1) Размерная обработка тонких слоев в микроэлектронике

Толщина обрабатываемых слоев не превышает 10 – 100 нм. Задачей такой обработки является селективное удаление определенных участков пленки без заметного повреждения подложки.

При использовании минимально возможных для ЭЛО ускоряющих напря-жений величиной 20 – 50 кВ, глубина проникновения электронов в твёрдое тело Rx max значительно превосходит толщину обрабатываемой пленки и поэтому основная часть тепловой мощности выделяется в подложке. Создавая квази-адиабатические условия нагрева, т.е. когда

x/Rxmax ≈0, тогда температура облученного участка плёнки будет

 

, (2.41)

 

где Спл и Сподл − теплоемкость материала пленки и подложки,

Тм – температура поверхности подложки в отсутствии пленки.

Наибольший практический интерес представляет обработка металлической пленки на керамической или стеклянной подложках и полупроводниковых пленок на SiO2. При этом Сподл ниже чем Спл. Общая мощность установки при такой ЭЛО не превышает 100 Вт.

2)Рекристаллизация пленок

Используется в основном для получения монокристаллических пленок полупроводниковых материалов в структуре пленка – окисел (диэлектрик) – подложка. Чаще используются структуры слой поликристаллического Si – SiO2 – подложка из монокристаллического кремния. Нагрев структуры осуществляется широким электронным лучом по всей поверхности пластины с использованием или без использования затравочного участка. Режим нагрева предусматривает локальное расплавление материала пленки и передвижение зоны расплава по всей поверхности образца. Для смягчения термоударов подложку подогревают до температуры 800…1000оС.

 


Дата добавления: 2015-10-24; просмотров: 442 | Нарушение авторских прав


<== предыдущая страница | следующая страница ==>
Электронно-лучевая сварка| Пробеги ионов в твёрдом теле.

mybiblioteka.su - 2015-2024 год. (0.006 сек.)