Читайте также:
|
Используется для измерения остаточных напряжений (I), (II и Ш родов). Метод использует свойство атомов кристаллической решетки в момент упрочнения. При этом будут изменяться параметры самой кристаллической решетки. Рентгеновские лучи направляются по поверхности детали (длина волн несколько ангстрем). Отражаются от атомных плоскостей кристаллической решетки. Возникает сложная картина отражения, зависящая от параметров кристаллической решетки.
Математическая обработка результатов отражения позволяет определить величину остаточных напряжений I, II и III рода.
Аппараты, выпускаемые в нашей стране УРС - 70, УРС -55.
PCA - всплеск на отожженном материале - эталон.
1. В материале есть ОН - по смещению от центра судят о напряжении I рода.
2. По увеличению пики - Ш рода.
3. По увеличению N -
Рентгеноструктурный метод основан на измерении межатомных
расстояний в напряженном и ненапряженном металле. Получают данные
с площадок величиной 1 - 3 м.
|
Дата добавления: 2015-08-17; просмотров: 43 | Нарушение авторских прав
| <== предыдущая страница | | | следующая страница ==> |
| Наибольшее распространение для определения остаточных напряжений получили 2 способа. | | | Скорость резания. |