Читайте также:
|
|
Характер зависимости удельной электропроводности у полупроводников от напряженности электрического поля Е в широком интервале, представленной на рис. 8.8, такой же, как и в случае твердых и жидких диэлектриков. До напряженности электрического поля, называемой критической Екр и равной 104—106 В/м, удельная электропроводность у не зависит от напряженности поля, т. е. соблюдается закон Ома —j = уЕ. Выше Екр удельная электропроводность уЕ с увеличением напряженности поля возрастает по экспоненциальному закону [у£ =уехррл/£, где р — коэффициент, характеризующий полупроводник]. При Е= Епр наступает пробой. С повышением температуры кривая зависимости у = ф(Е) перемещается вверх, а наклон возрастающей части уЕ становится меньше.
Электрические поля при Е < Екр считаются слабыми, а при Е > Екр — сильными. Граница между областями слабых и сильных полей не является четкой, определенной и зависит от природы полупроводника, его температуры и концентрации примеси.
В слабых электрических полях скорость дрейфа носителей заряда значительно меньше скорости их теплового хаотического движения. Поэтому распределение носителей заряда по энергетическим уровням будет соответствовать температуре кристаллической решетки. В сильных электрических полях скорость дрейфа носителей заряда соизмерима со скоростью их теплового движения, а значит, в сильных полях носители заряда на длине свободного пробега X приобретают энергии, соответствующие кинетическим энергиям теплового хаотического движения. В результате носители заряда распределяются по энергетическим уровням, соответствующим более высоким температурам, чем температура кристаллической решетки (или равной ей), которая практически не изменяется. Это явление называют разогревом носителей заряда электрическим полем. Аналогичные явления наблюдаются и в диэлектриках, например, в газообразных диэлектриках в сильных полях температура ионов и электронов газов превышает температуру неионизированных молекул.
На основании изложенного и исходя из того, что удельная электропроводность у полупроводников определяется концентрацией
Y' |
Область! Область слабых j сильных полей! полей |
Рис. 8.8. Зависимость удельной электропроводности у полупроводника от напряженности электрического поля Е при различных температурах:
Екр — граничная напряженность электрического поля между областями слабых и сильных полей; Епр — напряженность электрического поля, при которой наступает пробой полупроводника
свободных носителей заряда п и их подвижностью а (см. (8.2)), можно заключить следующее.
В области слабых электрических полей пиане зависят от напряженности поля. В этой области под действием электрического поля изменяются только направления скоростей носителей заряда.
В области сильных электрических полей с увеличением напряженности поля подвижность свободных носителей заряда а может как уменьшаться (чаще всего), так и возрастать; концентрация носителей заряда п и, следовательно, электропроводность всегда возрастают.
Различают несколько механизмов увеличения концентрации носителей заряда — термоэлектронную ионизацию, туннельный эффект и ударную ионизацию.
Дата добавления: 2015-08-09; просмотров: 341 | Нарушение авторских прав
<== предыдущая страница | | | следующая страница ==> |
Фоторезисторы | | | Термоэлектронная ионизация |