Студопедия
Случайная страница | ТОМ-1 | ТОМ-2 | ТОМ-3
АвтомобилиАстрономияБиологияГеографияДом и садДругие языкиДругоеИнформатика
ИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеталлургияМеханика
ОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРелигияРиторика
СоциологияСпортСтроительствоТехнологияТуризмФизикаФилософияФинансы
ХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника

Оборудование, приборы и материалы. В данной работе будет использовано следующее оборудование:

Читайте также:
  1. Аустенитные материалы
  2. В Приложении помещают статью для реферирования, а также вспомогательные или дополнительные материалы, которые загромождают текст основной части.
  3. Влияние температуры на конструкционные материалы и на РЭС
  4. Волокнистые композиционные материалы.
  5. Впервые в России Андрей Хвалин “Восстановление Монархии в России. Приамурский Земский Собор 1922 года” (материалы и документы), Москва, 1993
  6. Выбирают осветительные приборы с лампами накаливания.
  7. ВЯЖУЩИЕ МАТЕРИАЛЫ

В данной работе будет использовано следующее оборудование:

- Сканирующий электронный микроскоп Hitachi S-2300.

- Рентгеноспектральный микроанализатор Oxford Instruments Link ISIS-300.

- Шлифы поперечного сечения Nb3Sn и NbTi сверхпроводников различной конструкции, изготовленных разными методами, до и после травления.

- Изломы поперечных сечений Nb3Sn сверхпроводников, изготовленных по бронзовой технологии и методом внутреннего источника олова.

 

4. Содержание и порядок выполнения работы

В работе используются образцы композиционных сверхпроводников на основе NbTi сплавов и интерметаллического соединения Nb3Sn различных конструкций, изготовленные для исследования структуры сверхпроводников с использованием методов сканирующей электронной микроскопии и микрорентгеноспектрального анализа, а также для контроля качества полуфабрикатов на отдельных стадиях технологических операций.

В работе проводится:

- Ознакомление с устройством сканирующего электронного микроскопа Hitachi S-2300 и рентгеноспектрального микроанализатора Oxford Instruments Link ISIS-300.

- Ознакомление с основными этапами фрактографического анализа при работе на сканирующем электронном микроскопе.

- Ознакомление с основными этапами микрорентгеноспектрального анализа при работе на микроанализаторе.

- Ознакомление с основными приемами подготовки образцов сверхпроводников различных типов для проведения анализа на сканирующем микроскопе и микроанализаторе.

 

В работе выполняется:

- Размещение подготовленных образцов сверхпроводников на предметном столике микроскопа, с последующей его установкой в вакуумной камере микроскопа.

- Установка и настройка параметров сканирующего микроскопа и микроанализатора для проведения анализа.

- Фотосъёмка фрагментов поперечных сечений сверхпроводников различных типов с целью определения диаметра волокна и межволоконных расстояний. (Работа проводится на шлифах поперечных сечений сверхпроводников после химического травления)

- Фотосъёмка фрагментов поперечных сечений Nb3Sn сверхпроводников с целью определения толщины диффузионного барьера. (Работа проводится на шлифах поперечных сечений сверхпроводников после химического травления)

- Фотосъёмка излома Nb3Sn сверхпроводника с целью определения размеров зон столбчатых и равноосных зёрен интерметаллида Nb3Sn. (Работа проводится на изломе поперечного сечения провода)

- Количественный анализ химического состава волокон и матрицы в сверхпроводниках различных типов. (Работа проводится на шлифах поперечных сечений сверхпроводников после химического травления)

- Анализ полученных результатов и составление отчета по итогам работы, в соответствии с индивидуальным заданием.


Дата добавления: 2015-07-08; просмотров: 169 | Нарушение авторских прав


 

 

Читайте в этой же книге: Введение | Металлографический анализ | Теоретическое введение | Теоретическое описание проблемы | Оборудование, приборы и материалы | Оборудование, приборы и материалы | Определение упругости | Теоретическое введение | ВТСП второго поколения | Вычисление коэффициента заполнения по керамике |
<== предыдущая страница | следующая страница ==>
Принцип действия сканирующего электронного микроскопа| Практические навыки, приобретаемые студентом

mybiblioteka.su - 2015-2022 год. (0.029 сек.)