Читайте также:
|
Работая в связке с ТАР – контроллером, регистр инструкций (Instruction Register) определяет вид теста, который осуществляется в данный момент. Стандарт 1149.1 требует, чтобы все совместимые с ним устройства поддерживали как минимум три инструкции, а именно:
1. Инструкция EXTEST.
Эта инструкция обеспечивает проверку соединения микросхем с печатной платой и друг с другом (качество пайки). Переводит устройство в режим внешней проверки и коммутирует регистр Boundary Scan между входом TDI и выходом TDO. Во врем выполнения этой инструкции соты Boundary Scan, связанные с выходом, выдают предустановленные тестовые последовательности, предназначенные для последующих устройств. Данные, поступившие на вход во время выполнения этой инструкции, запоминаются для последующего анализа.
2. Инструкция SAMPLE/PRELOAD.
Эта инструкция позволяет устройству, не выходя из обычного его режима работы, выбрать Boundary Scan регистр, который будет подключен между входом TDI и выходом TDO. Во время этой инструкции Boundary Scan регистр может быть доступен через операции сканирования данных для взятия «проб» данных, поступающих в устройство и исходящих из него. Эта инструкция также используется для предустановки Boundary Scan регистра перед выполнением инструкции EXTEST.
3. Инструкция BYPASS.
Цепочка Boundary Scan может быть пропущена с использованием инструкции BYPASS через «обходной» (BYPASS) регистр. Это позволяет эффективно тестировать выбранное устройство без искажения (логического) сигнала другими. Инструкция BYPASS позволяет устройствам, совместимым со стандартом IEEE 1149.1, оставаться в нормальном функциональном режиме, подключая BYPASS регистр между выводами TDI и TDO. Данные проходят через указанные выводы, без нарушения функциональных режимов устройства.
Остальные инструкции присутствуют опционально. Для ПЛИС могут быть специальные инструкции конфигурирования, а для процессоров - чтение результата внутреннего теста. Пример дополнительных инструкций представлен ниже (табл. 1).
Таблица 1.
| INTEST | тест внутренней схемы (on-chip) |
| RUNBIST | режим самотестирования |
| CLAMP | подобно EXTEST, но выходы остаются зафиксированными при использовании регистра обхода |
| HIGHZ | устанавливает все выходы в 3-е состояние |
| IDCODE | подключает 32-битный идентификационный регистр |
| USERCODE | дополнительный 32-битный регистр с нефиксированным значением |
Производители микросхем предоставляют информацию о конкретной реализации BST для каждого типа своей продуции в виде BSDL-файла (Boundary-Scan Description Language). Чуть более подробно об этом формате можно узнать на http://www.asset-intertech.com.
Дата добавления: 2015-09-02; просмотров: 46 | Нарушение авторских прав
| <== предыдущая страница | | | следующая страница ==> |
| Архитектура Boundary Scan | | | Простой тест на уровне платы |