Читайте также:
|
Исторически большинство печатных плат тестировались с использованием аппаратуры, непосредственно подключаемой к проверяемым цепям с помощью различных приспособлений (в частности, «щупов»). Однако современные достижения в области микроэлектроники ставят перед производителями несколько проблем: высокотехнологичные микропроцессорные и специализированные устройства имеют огромное число контрольных точек, причем большая их часть находится непосредственно в корпусе микросхемы, а устройства для их проверки необходимо изготавливать узко специализированными, что непомерно дорого.
В 1985 году группа европейских компаний сформировала специальную организацию, занимающуюся вопросами тестирования - JETAG (Joint European Test Action Group), призванную решить эту проблему. Ее целю было создание единой аппаратной базы тестинга, контролируемой программным образом, исключающей применение сложной и дорогой специализированной аппаратуры тестирования. В 1988 году произошло дальнейшее развитие организации, превратившейся в JTAG (Joint Test Action Group). Результатом ее работы стало принятие в 1991 году Institute of Electrical and Electronic Engineers (IEEE) стандарта IEEE 1149.1, известного как стандарт Test Access Port and Boundary Scan Architecture.
Дата добавления: 2015-09-02; просмотров: 49 | Нарушение авторских прав
| <== предыдущая страница | | | следующая страница ==> |
| Тестирование цифровых устройств методом ASA | | | Архитектура Boundary Scan |