Читайте также:
|
Локализаторы неисправностей PFL имеют выходные клеммы, с которых на тестируемое устройство могут подаваться специальные "блокирующие" напряжения (guard яvoltage) высокого и низкого логических уровней. Точное размещение блокирующих напряжений на тестируемом устройстве разрешает работу испытываемого компонента и блокирует функционирование других. Рассмотрим это положение на примере представленной ниже цепи - предположим, что в наличии дефекта подозревается чип ОЗУ - U3.
Изолируйте U3 подачей блокирующих напряжений на входа CHIP ENABLE ИМС - U1 и U2. Микросхемы U1, U2 и U3 являются параллельно подключенными к шинам адреса и данных чипами ОЗУ. В случае нормальной работы дешифратор U4 имеет лишь один выходной контакт, на котором присутствует уровень логического нуля, разрешая работу чипам U1, U2 и U3.
Для испытания ИМС с помощью локализатора неисправностей в режиме внутрисхемного тестирования к компоненту U3 подсоединяется тестовая клипса. Когда локализатор PFL испытывает устройство, на него в течение нескольких миллисекунд подается напряжение питания и испытательные сигналы. В связи с тем, что чипы U2 и U3 соединены с тестируемым компонентом параллельно, они также активизируются локализатором. Мы можем блокировать их работу, подавая на их входа СЕ блокирующее напряжение высокого логического уровня - в результате этого, эти чипы будут находиться в высокоимпедансном, по отношению к общей шине, состоянии. Локализатор неисправностей PFL имеет клеммы, с которых на тестируемое устройство могут подаваться блокирующие напряжения высокого и низкого логических уровней, причем, эти уровни не будут изменяться в течение всего теста.
Аналогичным образом могут быть отключены и другие подсоединенные к шине компоненты - вы можете блокировать любое, необходимое для изоляции тестируемого элемента, количество компонентов. Другими словами, для корректного тестирования, подсоединенного к общей шине компонента, необходимо блокировать работу всех элементов, подключенных к нему параллельно.
Дата добавления: 2015-09-02; просмотров: 32 | Нарушение авторских прав
| <== предыдущая страница | | | следующая страница ==> |
| Устройства с тремя логическими состояниями | | | Отключение тактовых импульсов. |