|
Читайте также: |
Министерство Науки и Образования Российской Федерации
Новосибирский Государственный Технический Университет
«Спектральный анализ вещества»:
Фокусировка на поверхность
Факультет: РЭФ
Группа: РЭ3-41
Студент: Андреева А.А., Белоновский А.В., Жгулёва Е.А., Осипов А.Б.,
Пырков П.Е.
Преподаватель: Василевский А. И.
Новосибирск 2008
Принцип работы Оже-спектрометра в режиме ЭМ
Настройка резкости заключается в размещении образца в фокальной плоскости пушки. Схема подключения блоков к электронной пушке представлена на рисунке 1.
При настройке резкости установка находится в режиме электронного микроскопа. По закону Кирхгофа векторная сумма токов в узле равна нулю. То есть ток пушки равен сумме поглощенного тока и тока упруго отраженных электронов и эмиссии вторичных. При настройке резкости используют ток поглощенных электронов. Этот ток напрямую зависит от тока вторичных и упруго отраженных электронов, которые в свою очередь зависят от характеристики поверхности в конкретной точке.
Для получения картины некоторого участка поверхности используются строчная и кадровая развертки. Пилообразное напряжение генератора ТV-позиционера подается на отклоняющую систему пушки, а также на отклоняющую систему TV-монитора (необходимо для синхронизации).
При установке образца в фокальной плоскости пушки на мониторах должна наблюдаться четкая картина поверхности. Позиционирование осуществляется с помощью манипулятора, закрепленного на прецизионной системе перемещения.
Сигнал, снимаемый с образца, после усиления подается на модуляционный вход TV-монитора.
Дата добавления: 2015-08-10; просмотров: 43 | Нарушение авторских прав
| <== предыдущая страница | | | следующая страница ==> |
| К а м и л л Ф л а м м а р и о н | | | Порядок выполнения работы на установке в режиме ЭОС |