Студопедия
Случайная страница | ТОМ-1 | ТОМ-2 | ТОМ-3
АрхитектураБиологияГеографияДругоеИностранные языки
ИнформатикаИсторияКультураЛитератураМатематика
МедицинаМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогика
ПолитикаПравоПрограммированиеПсихологияРелигия
СоциологияСпортСтроительствоФизикаФилософия
ФинансыХимияЭкологияЭкономикаЭлектроника

Общие требования к оборудованию ультразвуковой дефектоскопии и толщинометрии

Оборудование неразрушающего контроля, | Область применения | Нормативные ссылки | Термины и определения | Общие требования к оборудованию | Общие требования к метрологическому обеспечению | Дополнительные требования к оборудованию рентгенографического контроля | Общие требования к оборудованию АЭК | Характеристики (свойства) оборудования (МПК), средств контроля (МПК) и измерений | Дополнительные требования к оборудованию контроля методом эффекта Холла |


Читайте также:
  1. I Общие сведения
  2. I. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ
  3. I. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ
  4. I. Общие сведения
  5. I. Общие сведения
  6. I. Общие сведения
  7. I.Общие сведения об учреждении

7.1.1 Ультразвуковое оборудование должно соответствовать требованиям
ГОСТ 12.2.003, ГОСТ 12.2.007.0, ГОСТ 12.2.007.10, ГОСТ 12.1.001, ГОСТ 12.1.003,
ГОСТ 9865 и ГОСТ 12.2.051.

7.1.2 В комплекте поставки должны входить:

- защитный чехол, бокс, футляр или чемодан, обеспечивающий безопасность оборудования при транспортировке и в процессе эксплуатации;

- стандартные образцы предприятия для настройки дефектоскопа или толщиномера.

7.1.3 Общие требования к оборудованию ультразвуковой дефектоскопии и толщинометрии приведены в таблице 7.1:

Таблица 7.1- Требования к оборудованию ультразвуковой дефектоскопии и толщинометрии

Параметр Величина Единица измерения
     
Тип дефектоскопа ультразвуковой импульсной дефектоскоп -
Тип преобразователя пьезоэлектрический, электромагнитоакустический -
Скорость распространения продольной волны в СО-2 и СО-3 при температуре (20 ± 5) °С должна быть равна (5900 ± 59) м/с

 

7.1.4 Дополнительные требования к оборудованию ультразвуковой дефектоскопии приведены в таблице 7.2:

Таблица 7.2- Дополнительные требования к оборудованию ультразвуковой дефектоскопии

Параметр Величина Ед. измер Примечание
       
Частотный диапазон, не уже от 1 до 10 МГц  
Диапазон регулировки усиления не менее   дБ  
Минимальный шаг регулировки усиления не более   дБ  
Встроенная память с функцией запоминания настроек не менее   шт.  
Время подготовки к проведению контроля на 1 толщину не более: - для ручных дефектоскопов; - для автоматизированных дефектоскопов.         мин мин  
Абсолютная погрешность измерения координат Х и Y в измеряемом диапазоне не более: - с углом ввода 0º; - с углом ввода 40º-70º.   ±(0,5 +0,02Y) ±(1 +0,05X) ±(1 +0,05Y)   мм мм мм  
Диапазон контролируемых толщин не уже: - для ручных дефектоскопов; - для автоматизированных дефектоскопов.   2 … 200 6 … 40   мм мм  
Диапазон контролируемых диаметров труб не уже: - для ручных дефектоскопов; - для автоматизированных дефектоскопов.     10 … 1220 160 … 1220     мм мм  
Вес дефектоскопа с аккумуляторами не более: - для ручных дефектоскопов; - для автоматизированных дефектоскопов с ручной подачей ПЭП; - для механизированных дефектоскопов.     без ограничений   кг кг   кг    
Диапазон рабочих температур -20... +45 °С  
Время непрерывной работы от аккумуляторов, не уже   ч  
Автоматическая регистрация и сохранение результатов контроля по всей длине шва (по всему объему шва)   Для автоматизированных дефектоскопов
Распечатка протокола контроля с компьютера   Для автоматизированных дефектоскопов
Скорость контроля не менее   м/мин Для автоматизированных дефектоскопов

 

7.1.5 Дополнительные требования к оборудованию ультразвуковой толщинометрии приведены в таблице 7.3:

Таблица 7.3- Дополнительные требования к оборудованию ультразвуковой толщинометрии


Дата добавления: 2015-07-19; просмотров: 92 | Нарушение авторских прав


<== предыдущая страница | следующая страница ==>
Требования к оборудованию визуального и измерительного контроля| Общие требования к оборудованию рентгенографического контроля

mybiblioteka.su - 2015-2024 год. (0.006 сек.)