Диагностирование оборудования процессоров.

Метод двухэтапного диагностирования — это метод тестового диагностирования в составе ЭВМ (в основном процессора), при котором объектами элементарных проверок на разных этапах диагностирования являются схемы с памятью (регистры и триггеры) и комбинационные схемы. Диагностическая информация, содержащая данные тестового воздействия, результат и состав контрольных точек элементарной проверки, адреса следующих элементарных проверок в алгоритме диагностирования, имеет стандартный формат, называемый тестом локализации неисправностей (ТЛН).

Подача тестовых воздействий, снятие ответа, анализ и выдача результатов реализации алгоритма диагностирования выполняются с помощью стандартных диагностических операций: "Установка", "Опрос", "Сравнение" и "Ветвление".

Тест локализации неисправностей содержит установочную и управляющую информацию, адрес ячейки памяти, в которую записывается результат элементарной проверки, эталонный результат, адреса ТЛН, которым передается управление при совпадении и несовпадении результата с эталонным и номер теста.

Метод последовательного сканирования — это вариант метода двухэтапного диагностирования, при котором схемы с памятью - (регистры и триггеры) в режиме диагностирования превращаются в один сдвигающий регистр с возможностью установки его в произвольное состояние и опроса с помощью операции сдвига. Метод распространен в ЭВМ, реализованных на больших интегральных микросхемах (БИС).

Метод микродиагностирования. Объектом элементарной проверки является аппаратура, участвующая в выполнении микрооперации, широко применяется для мини - и микро-ЭВМ и устройств в их составе.

Микропрограмма проверки очередной микрооперации использует уже проверенные микрооперации и тракты передачи информации. Транспортировка тестового воздействия на вход проверяемой аппаратуры выполняется с помощью имеющегося в ЭВМ набора микроопераций по существующим информационным трактам.

Снятие ответа и передача его с выхода проверяемой аппаратуры на входы схем сравнения выполняются либо микропрограммно, либо с помощью специальных диагностических операций "Опрос" и "Сравнение".

Метод эталонных состояний. Объектом элементарных проверок является аппаратура, используемая на одном или нескольких тактах выполнения рабочего алгоритма функционирования, реализуемого в режиме диагностирования. В качестве результата элементарной проверки используют состояние аппаратурных средств диагностируемого, устройства.

Процесс диагностирования по методу эталонных состояний заключается в потактовом выполнении рабочих алгоритмов ДУ, опросе состояния ДУ на каждом такте, сравнении состояния ДУ с эталонным и ветвлении в зависимости от исхода сравнения к выполнению следующего такта или сообщению о неисправности.

Для реализации метода эталонных состояний в качестве средств тестового диагностирования применяют совокупность аппаратурных и программных средств.

Метод диагностирования, ориентированный на проверку сменных блоков. Объектом элементарных проверок являются сменные блоки. Тестовые воздействия подаются на входы сменных блоков, а ответы снимаются с их выходов непосредственно или через дополнительную аппаратуру.

Этот метод позволяет локализовать, неисправность в ЭВМ с помощью диагностических тестов для сменных блоков. Такой подход уменьшает затраты на разработку диагностического обеспечения ЭВМ, состоящего, как правило, из диагностических тестов ЭВМ и диагностических тестов сменных блоков. В большинстве случаев в качестве сменных блоков ЭВМ используют ТЭЗ, что позволяет производить диагностирование ЭВМ с помощью диагностических тестов ТЭЗ.

Дата добавления: 2015-09-02