Читайте также:
|
Исследование динамических характеристик производится с помощью программного пакета ELECTRONICS WORKBENCH MULTISIM 8.
1) запустите на компьютере ELECTRONICS WORKBENCH MULTISIM 8 и составьте схему в соответствии с рис. 1.1,
Рис. 1.1. Структурная схема стенда для испытаний
применив в качестве D1 ТТЛ элементы И-НЕ 74LS00.
Запустите режим имитации (simulation) и измерьте с помощью осциллографа длительность отрицательных импульсов на выходе DA1:B.
Начертите изображение с экрана осциллографа. t 
логического элемента равно измеренной длительности импульса.
2) запустите на компьютере ELECTRONICS WORKBENCH MULTISIM 8 и составьте схему в соответствии с рис. 1.1, применив в качестве D1 КМОП элементы И-НЕ 4011BP.
Запустите режим имитации (simulation) и измерьте с помощью осциллографа длительность отрицательных импульсов на выходе DA1:B.
Начертите изображение с экрана осциллографа. t логического элемента равно измеренной длительности импульса.
3) запустите на компьютере ELECTRONICS WORKBENCH MULTISIM 8 и составьте схему в соответствии с рис. 1.2,
Рис. 1.2. Структурная схема стенда для испытаний.
применив в качестве D1 ТТЛ элемент И-НЕ 74LS00, а в качестве D2 ТТЛ элемент ИЛИ-НЕ 74LS02.
Запустите режим имитации (simulation) и измерьте с помощью осциллографа длительность положительных импульсов на выходе DA2.
Начертите изображение с экрана осциллографа. t 
логического элемента равно измеренной длительности импульса.
4) запустите на компьютере ELECTRONICS WORKBENCH MULTISIM 8 и составьте схему в соответствии с рис. 1.2, применив в качестве DА1 КМОП элемент И-НЕ 4011BP, а в качестве DA2 – 4001BD.
Запустите режим имитации (simulation) и измерьте с помощью осциллографа длительность положительных импульсов на выходе DA1:С.
Начертите изображение с экрана осциллографа. t логического элемента равно измеренной длительности импульса.
Содержание отчета
В отчете должны быть приведены:
- теоретический материал в объеме, достаточном для успешной защиты выполненной лабораторной работы;
- краткое описание исследуемых микросхем;
- схемы и результаты экспериментальных исследований в виде таблиц, графиков и численных значений, эскизы осциллограмм;
- выводы по лабораторной работе.
Дата добавления: 2015-07-20; просмотров: 100 | Нарушение авторских прав
| <== предыдущая страница | | | следующая страница ==> |
| Исследование статических характеристик логических элементов | | | Приложение |