Читайте также:
|
|
Рассмотрим пример другой лабораторной работы по изучению зависимости сопротивления полупроводника от его температуры . Диапазон температур полупроводника не очень большой: от комнатной температуры 26°С до 200°С. Предположим, что экспериментальные даненые получены и занесены в таблицу 8.
Таблица 8. Зависимость температуры полупроводника от температуры.
t,°C | ||||||||||
R, Ом |
Обсудим еще раз выбор масштаба для представления этих данных в графическом виде (см. рис.30). Максимальная метка °С, соответствующая оси температур Х, очень неплохо укладывается на 40 клетках, что соответствует очень удобному разделению по 10 клеток на кажые 50°С. А сколько надо дополнительных рисок? В этом случае предлагаю расставить их через 2 клетки, что придаст простоту определения координаты, так как интервал между такими рисками будет соответствовать 10°С, что очень удобно.
А вот на оси Y я расставил риски через 5 клеток на кажые 500 Ом сопротивления, что привело к неполному использованию площади бумаги. Но, посудите сами, если разделить ось по 6 или 7 клеток, было бы неудобно находить координату, а если по 8 клеток, то максимальная риска, соответствующая 2000 Ом, не поместилась бы на оси.
Теперь надо обсудить вид теоретической кривой. Откроем методические указания по выполнению лабораторных работ [2] на странице 28 и найдем фомулу 3, описывающую зависимость сопротивления полупроводника от темепературы ,
где – ширина запрещенной зоны, – постоянная Больцмана, – некоторая константа, имеющая размерность сопротивления, и, наконец, температура , выраженная в Кельвинах. Начнем оформлять новую таблицу. Во-первых, температуру переведем в Кельвины. Во-вторых, поставим себе задачу не только нарисовать новый график , но и найти с помощью графика ширину запрещенной зоны. Для этого прологарифмируем экспоненциальную зависимость и получим
Обозначим , , и . Тогда получим линейную зависимость ,
которую мы и будем изображать на графике. Данные, соответствующие значениям и , запишем в таблицу 9.
Таблица 9. Пересчет данных таблицы 8.
номер точки | ||||||||||
T, K | ||||||||||
1/ T, 10–3 K–1 | 3,34 | 3,19 | 3,00 | 2,83 | 2,68 | 2,54 | 2,42 | 2,31 | 2,21 | 2,11 |
ln R, Ом | 7,62 | 7,51 | 7,25 | 7,06 | 6,99 | 6,74 | 6,61 | 6,56 | 6,36 | 6,34 |
Если по данным таблицы 9 построить график зависимости на рис.31, то все экспериментальные точки займут совсем немного места на листе при большом пустом пространстве. Почему так получилось? Потому что по осям Х и Y метки расставлены начиная от 0, хотя значения, например, начинаются только со значения . Обязательно ли делать начальную метку равную 0? Ответ на этот вопрос зависит от поставленных задач. В примере с маятником Обербека (см. рис.28) было очень важным найти пересечение оси Х теоретической прямой в точке с координатой Y=0, что соответствовало значению . А в этой задаче надо найти только ширину запрещенной зоны, которая связана с постоянной , соответствующая коэффициенту наклона прямой на рис.31, поэтому совсем не обязательно расставлять метки на осях, начиная с 0.
Изучая данные из табл.9 и подбирая удобный масштаб, можно с уверенностью сказать, что ориентацию миллиметровой бумаги нужно изменить, как показано на рис.32. Самостоятельно изучите выбранный масштаб и убедитесь в том, что он очень удобен для работы с графиком. На теоретической прямой (проведенной на глаз наилучшим способом между экспериментальными точками) поставим две точки А и В с координатами и . Коэффициент наклона выразим через координаты этих точек по формуле
.
И, наконец, вычисляем ширину запрещенной зоны
.
Методом парных точек рассчитаем этот же коэффициент и его погрешность , для этого рассмотрим пары точек из таблицы 9:
1–4, 2–5, 3–6, 4–7, 5–8, 6–9 и 7–10.
Рассчитаем для этих пар точек коэффициенты наклона прямых, которые проходят через них
Среднее значение
,
Теперь рассчитаем ширину запрещенной зоны и ее погрешность .
Таким образом мы пришли к ответу
эВ
Дата добавления: 2015-07-16; просмотров: 43 | Нарушение авторских прав
<== предыдущая страница | | | следующая страница ==> |
К вопросу о выборе масштаба. | | | Статический метод. |