Читайте также: |
|
Стенд состоит из персонального компьютера и измерительного блока с установленными в него образцами полупроводниковых приборов, измерительными преобразователями, которые используются для формирования напряжения смещения от –10 В до +10 В и высокочастотного сигнала напряжения воздействия на объект измерения частотой 1 МГц и амплитудой 25 или 250 мВ, а также преобразования тока через образец в сигнал, пропорциональный его емкости и проводимости. Управление измерительным блоком и обработка измерительной информации производится персональным компьютером, подключаемым к измерительному блоку с помощью интерфейсного модуля через порт USB. Внешний вид стенда представлен на рисунке 37.
В качестве встроенных образцов полупроводниковых структур в ИБ установлены диод Шоттки, варикап и полевой транзистор с изолированным затвором в качестве образца МДП-структуры. Через разъемы на передней панели ИБ осуществляется подключение внешних образцов полупроводниковых структур.
Пределы измерения емкости образца составляют 1000, 300, 100, 30 и 10 пФ.
Программное приложение стенда позволяет проводить автоматизированные измерения вольт-фарадных характеристик полупроводниковых структур, выполнять обработку и осуществлять отображение полученных результатов на экране монитора в графическом и табличном виде, а также сохранять их в базе данных. Предусмотрена возможность передачи результатов в текстовый процессор Microsoft Word для подготовки отчета по проделанной работе.
Программное обеспечение стенда представлено двумя основными приложениями – C_V.exe и Server.exe. Server.exe – это программа управления измерительным блоком. Она работает самостоятельно и обменивается данными с приложением C_V.exe. C_V.exe – клиентская программа общения с пользователем. Она может работать как совместно с Server.exe, так и без нее. В первом случае, возможно проводить как измерения, так и их обработку данных, во втором – только обработку ранее сделанных измерений.
Дата добавления: 2015-11-14; просмотров: 30 | Нарушение авторских прав
<== предыдущая страница | | | следующая страница ==> |
Основные положения теории контактных явлений | | | Окно схемы измерений |