При атомно-эмиссионном определении элементов на спектрографах ИСП-28, ИСП-30

Элемент	Основные линии, нм	Предел обнаружения, %	Контрольные линии, нм	Предел обнаружения, %	Мешающие линии, нм
Ag	328.07	<3×10^-^4	338.29	<3×10^-^4	Mn 328.08 Fe 328.03 Sb 338.31
Be	234.80	<10^-4	313.04 313.11	10^-4 <3×10^-4	V 313.03 (0.01%) Ti 313.08 (0.3%)
Mg	285.21	10^-4	279.55 280.27	<3×10^-4 <3×10^-4	Mn 279.48 Na 285.28 (1%) Fe 285.18 Fe 279.55
Mn	280.11	<3×10^-4	279.48 293.31	<3×10^-4 10^-^3	Mg 279.55 Fe 279.55

Рис. II.13. Планшет атласа спектральных линий железа

На планшете нанесены линии спектра железа, шкала длин волн, аналитические линии элементов с указанием точного значения соответствующей длины волны. При расшифровке спектра изображение с фототопластинки с помощью специального спектропроектора проецируется на листы атласа. Затем производится совмещение изображения спектральных линий железа на планшете и в спектре железа с пластинки. После совмещения соответствующих участков спектра появляется возможность идентификации линий в спектре пробы.

Различают полный качественный анализ, в ходе которого устанавливают элементный состав пробы, и анализ на заданные элементы. При проведении полного анализа обычно необходимо проводить съемку спектров в несколько приемов с несколькими порциями образца. Для обнаружения легко- и трудновозбудимых элементов приходится использовать различные источники света, соответствующим образом подбирая их параметры. При определении заданных элементов обычно могут быть сделаны предварительные предположения о составе образца и в соответствии с ними выбраны оптимальные условия проведения анализа. Наиболее широко эмиссионный анализ используют для обнаружения легко- и средневозбудимых элементов (около 30) в металлах и сплавах, в образцах, не проводящих электрический ток, - керамике, горных породах, минералах, рудах, строительных материалах. При этом в значительной степени упрощается стадия предварительной подготовки пробы (отпадает необходимость перевода образца в раствор).

Дата добавления: 2015-07-11