Читайте также:
|
Существует два способа запуска тестов S.M.A.R.T.: автономный (off-line) или монопольный (captive). Результат теста всегда сохраняется накопителем в данных S.M.A.R.T.
1. При автономном запуске накопитель сообщает о успешном завершении команды до ее фактического исполнения и только после этого выполняет тест. При этом, по интерфейсу флаг "занято" (busy) не выставляется и накопитель в любой момент готов приступить к выполнению очередной интерфейсной команды, приостанавливая работу теста. Фактически, тест выполняется в фоновом режиме.
При выполнении этой функции, накопитель выполняет полное сканирование поверхности путем чтения каждого сектора и замещением ненадежных секторов на запасные сектора из резервной области (spare area) для предотвращения потери пользовательских данных.
Примечание. Если во время выполнения сканирования накопитель получает команду по интерфейсу, то процесс сканирования прерывается и накопитель приступает к обработке поступившей команды. При этом гарантируется максимальное время реагирования на поступившую команду - до 2 секунд.
2. При запуске теста в монопольном режиме, по интерфейсу выставляется флаг "занято" (busy) и накопитель начинает непосредственное выполнение теста в режиме реального времени. Любая интерфейсная команда во время выполнения этого теста приведет к его прерыванию и остановке, после чего накопитель приступит к обработке поступившей команды.
Документировано существует три типа тестов самодиагностики: фоновый сбор данных (Off-line collection), сокращенный тест (Short Self-test), расширенный тест (Extended Self-test), однако еще существует набор так называемых "активных" тестов, функциональные особенности которых различны у разных производителей и для широкой публики не документированы. Сокращенный и расширенный тест способны выполняться как в фоновом, так и в монопольном режимах. Набор входящих в них тестов не стандартизирован.
Реальный набор выполняемых тестами функций можно рассмотреть на примере тестов, поддерживаемых жесткими дисками Hitachi:
Таблица 6.1. Функции тестов поддерживаемые дисками от Hitachi
| Функция теста | Short Self test | Extended Self test | Off-line Collection |
| Raw Read Error Rate Test | YES | YES | YES |
| Write Test | YES | YES | NO |
| Servo Test | YES | YES | NO |
| Partial Read Scanning | YES | NO | NO |
| Full Read Scanning | NO | YES | YES |
Дата добавления: 2015-09-04; просмотров: 57 | Нарушение авторских прав
| <== предыдущая страница | | | следующая страница ==> |
| Логические дефекты | | | Проблемы и недостатки S.M.A.R.T. |