Глава VII. Экспертизы, выполняемые ЭКП ОВД. Микроскопические методы универсальны и используются для исследования различных

Микроскопические методы универсальны и используются для исследования различных микрообъектов для выявления морфоло­гических особенностей.

Оптическая (световая) микроскопия в отраженном, проходящем и поляризованном свете широко используется при исследовании объектов СЭМВИ.

Так, при исследовании лакокрасочных материалов и покрытий установление слоев в покрытии, их последовательности и толщины, наличия включений, загрязнений, взаимного проникновения слоев, образования различного рода воздушных пор, пузырей, раковин и других дефектов технологического характера позволяет в некото­рых случаях по результатам микроскопического исследования ре­шать вопрос о тождестве объектов.

Исследование волокнистых материалов микроскопическими ме­тодами проводится для определения природы, цвета, характера по­верхности волокон, выявления посторонних микроналожений воло­кон. Эти исследования позволяют решать задачи определения родо­вой принадлежности окрашенных текстильных волокон, а при ис­следовании тонких срезов химических и природных волокон - ус­тановления их родовой (групповой) принадлежности.

Люминесцентная микроскопия используется для наблюдения люминесценции некоторых веществ в видимой области спектра при ее возбуждении ультрафиолетовым излучением. Используется для обнаружения следов ГСМ и НП на предметах носителях, при иссле­довании стекол, химических ловушек и идентификационных меток и любых люминесцирующих микрочастиц.

Электронная микроскопия — метод изучения структуры поверх­ности микрообъектов с помощью потока электронов, позволяющий исследовать объекты при увеличении порядка 2х10"⁵ и обладающий высокой разрешающей способностью. В экспертной практике исполь­зуются метод просвечивающей электронной микроскопии и метод растровой электронной микроскопии.

Просвечивающая электронная микроскопия позволяет выяв­лять внутреннюю структуру и морфологию поверхности различ­ных объектов. На предварительном этапе исследования готовят­ся ультратонкие срезы или реплики (отпечатки поверхностей на пленках).

При исследовании волокон метод используется для выявления особенности их поверхности и внутренней структуры, красителей неорганической природы (установления формы, размеров частиц красителя и характера их распределения), наличия различных от­делочных материалов, эксплутационных признаков - с целью уста­новления общей родовой (групповой) принадлежности.

Метод позволяет также выявлять особенности технологии изго­товления (термической обработки) ряда изделий из стекла.

$ 19. Экспертиза материалов, веществ и изделий

Растровая электронная микроскопия основана на сканировании объекта исследования тонким электронным пучком (зондом) диамет­ром до 50 А. Благодаря высокой разрешающей способности позво­ляет получать ценную информацию о морфологических особеннос­тях поверхности твердых объектов без их предварительной подго­товки. Используется для установления общей родовой (групповой) принадлежности волокон (по выявлению особенностей морфологии их поверхности, наличию частиц отделочных препаратов, следов механического, температурного и эксплуатационного воздействия) и лакокрасочных покрытий (по изучению морфологии верхней и нижней поверхностей для выявления технологических и эксплуа­тационных признаков), а также для выявления микротрасологичес-ких признаков при исследовании частиц из металлов и сплавов.

Методы спектроскопии используют для установления элемент­ного и молекулярного состава и структуры вещества.

Атомный эмиссионный спектральный анализ (ЭСА) имеет не­сколько видов, используемых при производстве экспертиз: ЭСА в дуге и искре переменного тока, в дуге и искре постоянного тока, лазерный микроспектральный анализ, с использованием горячего полого катода. Методы ЭСА применяются в целях установления:

- вида (черный, цветной, драгоценный) и рода (соответствие мар­
ке черного, цветного металла и сплава) металла; общей групповой
принадлежности сравниваемых объектов - по одинаковому качествен­
ному элементному составу и количественному содержанию элементов
компонентного состава, легирующих элементов и примесей;

- природы объектов неорганического происхождения, минераль­
ной составляющей стекла, керамики, ЛКМ и ЛКП, ГСМ и НФ, стро­
ительных материалов;

- конкретной родовой (например, отнесение осколков стекла
к фарному или оконному), а в ряде случаев и общей групповой, при­
надлежности сравниваемых объектов либо источника происхожде­
ния (например, конопля по месту произрастания);

— факта контактного взаимодействия объектов судебной экспер­тизы с драгоценными металлами;

Наиболее перспективен для исследования материалов и веществ лазерный микроспектральный анализ, минимально повреждающий объект, при использовании которого не требуется подготовки проб, а для анализа необходимы предельно малые размеры (до 20 мкм) и количества (до!мкг) объекта. Метод используется для анализа со­става микровключений в различного рода объектах, а также для послойного анализа (без разделения слоев) многослойных ЛКП.

Атомно-абсорбционная спектроскопия - метод, основанный на исследовании спектров поглощения атомами элементов. Применя­ется для установления качественного и количественного элементного состава вещества. В СЭМВИ применяется для исследования ЛКП,

---

Дата добавления: 2015-07-11