|
К основным параметрам фотодиода в фотодиодном режиме относят интегральную чувствительность, дифференциальное сопротивление, начальное статическое сопротивление, максимально допустимое и рабочее напряжения, граничную частоту.
Чувствительность фотодиода S показывает, какой ток приходится на единицу светового потока. Поскольку ток фотодиода, а следовательно, и его чувствительность зависят в какой-то степени от приложенного напряжения, то чувствительность определяют при напряжении U = 1 В и называют удельной интегральной чувствительностью. Она может- быть определена по вольт-ампер- ным характеристикам или по световой характеристике, снятой при напряжении 1 В, по формуле:
S = при U — 1 В.
Кремниевые фотодиоды имеют чувствительность 3—7 мА/лм, а германиевые— 10—20 мА/лм.
Темновой ток /т зависит от приложенного напряжения. Поэтому как параметр его определяют при U — 1 В. Темновой ток можно определить по световой характеристике, снятой при U = = 1 В в точке, где Ф = 0 (см. рис. 3.21, в), или по вольт-ампер- ной характеристике для темнового тока (Ф = 0) при U = 1 В (см. рис. 3.21, б; точка А).
Темновой ток германиевых фотодиодов составляет 15— 30 мкА, кремниевых — гораздо меньше: до 1 мкА.
Дифференциальное сопротивление гдиф — это сопротивление затемненного фотодиода изменению тока. Его определяют по вольт-амперной характеристике темнового тока как отношение приращения приложенного напряжения к соответствующему приращению темнового тока:
Приращения берут для двух близлежащих точек характеристики (см. рис. 3.21, б; точки Л и £).
Начальное статическое сопротивление /?ст — это сопротивление затемненного фотодиода при постоянном напряжении, равном 1 В.
Его определяют как напряжение, деленное на темновой ток:
т. е. начальное статическое сопротивление вычисляется как величина, обратная темновому току. Например, для кремниевого фотодиода при /т = 1 мкА RCT — 1 МОм.
Максимально допустимым является наибольшее напряжение, при котором не происходит пробой фотодиода. Его величина зависит от температуры. Кремниевые фотодиоды могут работать в большем диапазоне температур окружающей среды, чем германиевые.
Рабочее напряжение — это напряжение, выбранное с запасом таким образом, чтобы фотодиод работал надежно длительное время. Для кремниевых и германиевых фотодиодов оно составляет 10—20 В.
Граничная частота характеризует частотные свойства фотодиода, как и частотная характеристика; /гр — это та частота изменения интенсивности светового потока, при которой интегральная чувствительность уменьшается в -\/2 раз. Для кремниевых фотодиодов, работающих в фотодиодном режиме, граничная частота— порядка 107 герц, т. е. их быстродействие велико и они практически безынерционны. Это способствует их успешному использованию для воспроизведения звука в кинематографии, а также в других областях.
Работа фотодиода в фотогальваническом режиме. В этом режиме фотодиод работает без внешнего источника напряжения. В цепь фотодиода в этом случае включают только сопротивление нагрузки RH (рис. 3.22, а). Рассмотрим сначала процессы, происходящие в фотодиоде при разомкнутой внешней цепи (рис.
3.22, б). При отсутствии светового потока на электронно-дырочном переходе создается потенциальный барьер. Под действием светового потока, падающего на область n-типа, в этой области генерируются пары электрон — дырка. Двигаясь хаотически во всех направлениях, часть образовавшихся носителей заряда подходит к р-п переходу, где дырки втягиваются в p-область внут
ренним электрическим полем, созданным контактной разностью потенциалов, а электроны отталкиваются этим полем и остаются в и-области. Таким образом, в p-области происходит накопление дырок, заряжающих ее положительно, а в п-области — электронов, заряжающих ее отрицательно. Вследствие этого при разомкнутой цепи между выводами от р- и n-областей создается разность потенциалов, называемая фотоэлектродвижущей силой £ф. Чем больше световой поток, тем больше фото-э.д.с. Однако прямой пропорциональности между £ф и Ф нет.
У/
При подключении нагрузки в цепи фотодиода под действием фото-э.д.с. протекает ток /ф, создающий падение напряжения на нагрузке = /ф„. Таким образом фотодиод без внешнего источника питания (непосредственно) преобразует световую энергию в электрическую.
Основные характеристики фотодиода в фотогальваническом режиме — это световые характеристики, которые представляют собой два вида зависимостей (рис. 3.22, в):
1) зависимость фото-э.д.с. от светового потока
£Ф = /.(<*>);
2) зависимость фототока от светового потока при постоянной величине сопротивления нагрузки
/ф — h(Ф) при /?„ = const.
Первая зависимость выражается нелинейной характеристи
кой: фото-э.д.с. растет с увеличением светового потока сначала быстро, а затем все медленнее (кривая /).
Зависимость тока /ф от светового потока при разных значениях сопротивления RH представляет собой семейство световых характеристик (кривые 2), из которых световая характеристика при коротком замыкании нагрузки (/?„ = 0) строго линейна, а с увеличением сопротивления нагрузки характеристики все более искривляются; при больших величинах сопротивления нагрузки характеристики имеют пологую часть, отражающую область насыщения при больших значениях светового потока.
Нелинейность световых характеристик является недостатком фотодиода, работающего в фотогальваническом режиме при больших сопротивлениях нагрузки. В случае применения фотодиода в этом режиме для воспроизведения звука с фотографических фонограмм используют небольшие световые потоки, а сопротивлением нагрузки фотодиода является малое входное сопротивление транзисторного усилителя.
Из-за нелинейности световых характеристик чувствительность фотодиода в фотогальваническом режиме определяют по приращениям тока и светового потока:
5ДИф = при Ян = const.
При малых световых потоках чувствительность больше; с увеличением светового потока она уменьшается. Чувствительность также зависит от сопротивления нагрузки: наибольшая чувствительность фотодиода получается при коротком замыкании наг грузки. В этом случае чувствительность остается одинаковой при различной величине светового потока и определяется для любой точки характеристики как отношение /ф/Ф. С ростом сопротивления нагрузки чувствительность уменьшается.
Внутреннее сопротивление фотодиода в фотогальваническом режиме значительно меньше, чем в фотодиодном; напряжение, создаваемое фотодиодом на нагрузке, при одинаковом световом потоке в фотогальваническом режиме, тоже значительно меньше, чем в фотодиодном. Максимальная чувствительность, определяемая как ток, который можно получить на единицу светового потока, в обоих режимах практически одинакова.
В кинематографии фотодиоды применяются в транзисторной звуковоспроизводящей аппаратуре киноустановок как датчики сигнала с фотографических фонограмм: в передвижной аппаратуре — в фотогальваническом режиме, а в стационарной — в фотодиодном. Их преимуществами перед фотоумножителями, используемыми в ламповой звуковоспроизводящей аппаратуре, являются малые габариты и масса, большие чувствительность и механическая прочность, долговечность и надежность, низкие напряжения питания в фотодиодном режиме и возможность использовать их без внешнего источника питания в фотогальвани- ческом режиме.
В микроэлектронном исполнении фотодиоды используют в оптоэлектронике.
3.3.3. Фототранзисторы и фототиристоры
Фототранзистор — это фотоэлектронный прибор, имеющий транзисторную структуру, ток которого управляется световым потоком.
Простейший фототранзистор устроен подобно биполярному
Рис. 3.23. Фототранзистор: а — структура; б — условное графическое обозначение; в — схема с общим эмиттером с включенной базой; г — схема включения со свободной базой |
транзистору р-п-р или п-р-п типа с двумя р-п переходами: эмиттерным и коллекторным. Базовый слой выполняется очень тонким. Кристалл помещается в корпус, имеющий прозрачное окно для облучения светом базовой области. Структура фототранзистора, его условное графическое обозначение и схемы включения показаны на рис. 3.23.
Фототранзистор включается в цепь источника питания как обычный биполярный транзистор, так что на эмиттерном переходе действует прямое напряжение, а на коллекторном — обратное. Чаще всего используют схему с общим эмиттером (рис.
3.23, в). Получили большое распространение также схемы со свободной базой, в которых цепь базы разомкнута, причем база может не иметь отдельного вывода (рис. 3.23, г).
Рассмотрим принцип действия фототранзистора р-п-р-типа в схеме со свободной базой (рис. 3.24). В части база — коллектор его можно рассматривать как фотодиод, а вместе с эмиттером он получает дополнительные усилительные свойства транзистора, что значительно увеличивает его чувствительность при преобразовании световых сигналов в электрические, м При отсутствии светового потока через фототранзистор про
текает очень малый темновой ток. Он обусловлен тем, что дырки, которые переходят из эмиттера в базу, частично доходят до коллекторного перехода и втягиваются коллектором. Небольшая величина этого тока объясняется тем, что в этом процессе заряд дырок в базе не компенсируется электронами, концентрация которых в базе мала, а пополнения электронов при разомкнутой цепи базы нет. Образующийся таким образом в л-области базы положительный объемный заряд дырок увеличивает потенциальный барьер эмиттерного перехода и препятствует дальнейшему проникновению дырок из эмиттера в базу. В результате количество дырок, инжектируемых эмиттером в базу, ограничивается,
Генерация пар |
Рис. 3.24. Принцип действия фототранзистора (а) и его вольт-амперные характеристики (б)
а следовательно, меньше их переходит в коллектор под действием приложенного к коллекторному переходу напряжения. Таким образом, темновой ток фототранзистора получается сравнительно малым.
При облучении базовой л-области светом в ней, как и в фотодиоде, за счет световой энергии разрушаются ковалентные связи и образуются электронно-дырочные пары. Дырки под действием приложенного напряжения переходят в коллектор, увеличивая его ток по сравнению с темновым током, т. е. появляется фототок /ф. Таким образом, в коллекторном переходе фототранзистора между базой л-типа и коллектором р-типа происходят те же процессы, что и в фотодиоде.
Однако рассмотренными процессами принцип действия фототранзистора не ограничивается, поскольку в нем имеется еще эмиттерный переход. Электроны, образованные фотонами света при разрушении ковалентных связей, накапливаются в базе л-ти- па около эмиттерного перехода и понижают его потенциальный
барьер. В результате резко увеличивается количество дырок, инжектируемых из эмиттера в базу, которые движутся к коллекторному переходу и через него — в коллектор. За счет этих дырок в цепи коллектора появляется составляющая тока /к\ а общий ток коллектора возрастает, причем в гораздо большей степени, чем за счет дырок, образованных в базе фотонами при попадании светового потока. Здесь сказываются усилительные свойства транзистора: в схеме с общим эмиттером ток усиливается в р раз, где р = h2] э.
На рис. 3.24, а темновой ток /т показан пунктирными стрелками, фототок /ф — тонкими сплошными, а ток /к — толстыми сплошными. Общий ток коллектора /к фототранзистора, включенного по схеме с общим эмиттером и свободной базой, определяется как сумма трех составляющих:
/к = К -Ь /ф -f- /т-
Подставив значение /к' = р/ф, получим:
/к = р/ф -J- /ф -J- /т-
Или окончательно:
/к = (Р -+- 1) /ф /т.
Таким образом, в фототранзисторе наряду с появлением фототока происходит его усиление, за счет чего он имеет гораздо большую интегральную чувствительность, чем фотодиод.
Чувствительность фототранзистора определяется как отношение изменения тока коллектора к вызвавшему его изменению светового потока при свободной базе и коротком замыкании нагрузки:
5д„ф = при /б = 0; RH = 0.
Чувствительность фототранзисторов составляет сотни миллиампер на люмен.
Важный параметр фототранзистора — коэффициент усиления по фототоку /Сф, который определяется как отношение тока коллектора освещенного фототранзистора со свободной базой к фототоку коллекторного р-п перехода при отключенном эмиттере при той же величине светового потока:
/Сф = при Ф = const.
1 ф
Коэффициент усиления /(ф можно определить по формуле: Кф = 1 + Р = 1 h21э\
/Сф составляет десятки и сотни единиц.
Основные характеристики фототранзистора — вольт-амперные и световые.
Вольт-амперная характеристика фототранзистора — это зависимость тока коллектора от напряжения между коллектором и эмиттером при постоянном световом потоке (рис. 3.24, б):
/к = / (U™) при Ф == const.
Вольт-амперные характеристики фототранзистора по виду аналогичны выходным характеристикам обычного биполярного транзистора, но постоянной величиной, при которой снимается каждая характеристика, будет не ток базы, а световой поток. От вольт-амперных характеристик фотодиода они отличаются масштабом оси токов (ток фототранзистора гораздо больше) и тем, что все характеристики выходят из начала координат, т.е. при икэ = О /к = 0. Чем больше световой поток, тем выше располагаются характеристики.
Световые характеристики фототранзистора линейны и имеют такой же вид, как характеристики фотодиода, работающего с внешним источником питания.
Спектральные характеристики зависят от материала и примесей и перекрывают видимую и инфракрасную часть спектра.
Граничная частота биполярных фототранзисторов составляет 105 Гц.
В схеме использования фототранзистора с включенной цепью базы (см. рис. 3.23, в) происходят такие же процессы, как в схеме со свободной базой. При наличии цепи базы появляется дополнительная возможность управлять током коллектора путем изменения тока базы и расширяется область применения фототранзисторов: наряду с преобразованием слабых световых сигналов в электрические и их усилением внутри фототранзистора можно суммировать их с электрическими сигналами, поступающими в цепь базы и усиленными фототранзистором как обычным биполярным транзистором.
Помимо биполярных фототранзисторов разработаны полевые фототранзисторы с управляющим р-п переходом. Они имеют более высокую чувствительность — до нескольких ампер на люмен, допускают большую мощность; граничная частота их — до 107— 108 Гц.
Фототранзисторы наряду сч фоторезисторами и фотодиодами находят применение в различных областях, в том числе и в микроэлектронике — в качестве фотоприемников совместно со светодиодами, являющимися фотоизлучателями.
Фототиристор — фотоэлектронный прибор, имеющий четырехслойную структуру с двумя выводами (рис. 3.25, а). Его условное графическое обозначение показано на рис. 3.25, б.
Фототиристор, как и обычный полупроводниковый тиристор,
г
имеет структуру р-п-р-п и три р-п перехода, из которых краиние П\ и П3 включены в прямом направлении, а средний — Я2— в обратном. Величина напряжения на фототиристоре выбирается так, что при отсутствии светового потока он закрыт. В отличие от обычного тиристора напряжение включения фототиристора зависит не от тока управления, а от светового потока. Фототиристор устроен так, что свет падает на внутренние слои р2 и пх, в которых за счет энергии фотонов происходит образование пар электрон — дырка. Дырки из области п\ переходят в область р2, в электроны — из области р2 в область п\ под действием об-
Генерация пар Рис. 3.25. Фототиристор: а — структура и схема включения; б — условное графическое обозначение; в — вольт-амперные характеристики |
ратного напряжения на коллекторном переходе Я2. При этом возрастает ток через этот переход, следовательно, увеличивается ток / во внешней цепи. При определенной величине тока фототиристор включается. Чем больше световой поток Ф, тем меньше напряжение ивкл, при котором включается фототиристор.
Вольт-амперные характеристики фототиристора аналогичны вольт-амперным характеристикам обычного тиристора (рис. 3.25, в), но каждая из них соответствует определенному постоянному значению светового потока:
/ = f(U) при Ф = const.
При переходе из закрытого состояния в открытое сопротивление фототиристора уменьшается от сотен мегаом до десятых долей ома; это происходит практически мгновенно — в течение миллионных долей секунды. Фототиристоры используют для коммутации электрических цепей большой мощнрсти при помощи световых сигналов.
Система обозначения фотоэлектронных приборов. Электровакуумные фотоумножители обозначают тремя буквами — ФЭУ — и числом, определяющим коли-
чество динодов во вторично-электронном умножителе; например, ФЭУ-1 —однокаскадный фотоумножитель, ФЭУ-18 — фотоумножитель многокаскадный, имеющий 18 динодов.
Полупроводниковые фотоэлектронные приборы имеют в системе обозначений четыре элемента:
первый элемент — две буквы, определяющие группу прибора по принципу действия: ФР — фоторезисторы, ФД — фотоэлектронные прибор.ы с р-п переходами, ФУ — приборы с р-п переходами и внутренним усилением;
второй элемент — буква, определяющая исходный материал, из которого изготовляется прибор: К — кремний, Г — германий;
третий элемент — число от 001 до 999 — порядковый номер разработки прибора;
четвертый элемент — буква, определяющая подгруппу прибора: Б — биполярный фототранзистор, У — полевой (униполярный) фототранзистор, Т — фототиристор.
Примеры обозначений: ФДК9 — фотодиод кремниевый, порядковый номер разработки 9, ФДК155 — то же, порядковый номер разработки 155.
Контрольные вопросы
1. На чем основан принцип действия фоторезистора?
2. Объясните процессы, происходящие в фотодиоде при работе в фотодиодном режиме, и его вольт-амперные характеристики.
3. Объясните процессы, происходящие в фотодиоде при работе в фотогальвани- ческом режиме.
4. Нарисуйте и объясните световые характеристики фотодиода в фотодиодном и фотогальваническом режиме и назовите его основные параметры.
5. Объясните принцип действия и вольт-амперные характеристики фототранзистора и фототиристора.
Глава 3.4.
СВЕТОИЗЛУЧАЮЩИЕ ДИОДЫ
3.4.1. Устройство и принцип действия светодиода
Светоизлучающий диод (светодиод) — это полупроводниковый прибор с одним р-п переходом, в котором осуществляется непосредственное преобразование электрической энергии в энергию светового излучения.
Светодиоды предназначены для использования в устройствах визуального представления информации, а также в качестве светоизлучающего элемента в оптоэлектронных устройствах.
Принцип действия светодиода основан на излучении света р-п переходом некоторых полупроводников, вызываемом рекомбинацией электронов и дырок при прохождении прямого тока.
Светодиод имеет двухслойную структуру (рис. 3.26, а). Процессы, происходящие в р-п переходе при отсутствии внешнего напряжения и при прямом напряжении, такие же, как в обычном полупроводниковом диоде, но главную роль в светодиоде играют процессы рекомбинации, на рассмотрении которых следует остановиться подробно. Как известно, в собственных и примесных
г
полупроводниках наряду с генерацией электронно-дырочных пар (за счет поглощения дополнительной энергии) происходят обратные процессы — рекомбинации электронов и дырок с выделением квантов энергии.
В большинстве полупроводников, в том числе в германии и в кремнии, выделяемая при рекомбинации энергия в основном превращается в тепловую, а излучаемая энергия мала; излучение из-за малой ширины запрещенной зоны находится в невидимой части спектра. В этом случае рекомбинация носит название безызлучательной.
Рис. 3.26. Структура светодиода (а) и энергетическая диаграмма, поясняющая его принцип действия (б) |
а |
Валентная зона б |
В некоторых полупроводниках, имеющих большую ширину запрещенной зоны А\^3, например арсениде галлия (1,5 эВ), фосфиде галлия (2,2 эВ), карбиде кремния (2,5—3 эВ) и других, рекомбинация сопровождается выделением квантов света (фотонов), т. е. является излучательной.
При отсутствии внешнего напряжения на светодиоде интенсивность рекомбинаций настолько незначительна, что излучение р-п перехода не наблюдается. Обычно светодиоды изготовляют с несимметричным р-п переходом: концентрация дырок в р-области значительно превышает концентрацию электронов в я-области.
При включении источника прямого напряжения через р~п переход проходит большой ток за счет инжекции дырок из р-области в л-область. В результате я-область вблизи р-п перехода насыщается дырками, происходит интенсивная их рекомбинация с электронами, сопровождающаяся в рассматриваемых полупроводниках излучением света. Интенсивность излучения пропорциональна количеству носителей заряда, инжектированных через р-п переход. Поэтому светодиоды называют инжекционными. Для увеличения яркости свечения необходимо увеличивать прямой ток через светодиод. Чтобы обеспечить достаточную яркость из-
лучения, требуется создать плотность тока порядка 30 А/см, а поскольку площадь р-п перехода очень мала, то прямой ток составляет обычно 5—100 мА.
Свечение, излучаемое р-п переходом светодиода, связано с энергетическими процессами и может быть объяснено с помощью диаграммы энергетических уровней. В результате инжекции в л-область неосновных для нее носителей заряда и большого количества в ней основных носителей получается значительное число электронов проводимости и дырок. На энергетической диаграмме это соответствует заполнению нижних уровней зоны проводимости электронами и появлению в верхней части валентной зоны не занятых электронами уровней — дырок (рис. 3.26, б). Такое состояние неустойчиво, поэтому непрерывно происходит процесс обратного перехода электронов из зоны проводимости на свободные уровни валентной зоны, т. е. рекомбинация электронов и дырок. Выделяющаяся при этом энергия для каждого случая рекомбинации равна разности энергий, соответствующих уровню, на котором электрон был в зоне проводимости, и уровню, на который он перешел в валентной зоне.
Из энергетической диаграммы видно, что выделяющаяся при рекомбинации энергия может иметь значения только в пределах от ширины запрещенной зоны AW3 до величины AW3 -f- 26W, где SW — ширина заполненной части зоны проводимости и, соответственно, свободной части валентной зоны. В то же время выделяющийся при рекомбинации квант с энергией от A W3 до AUP3 + 26 UP не может быть поглощен электроном валентной зоны, так как для перехода его с занимаемого им уровня в валентной зоне на свободный уровень в зоне проводимости он должен получить энергию, превышающую величину AW3-\-2bW.
Из-за того что на верхних уровнях валентной зоны нет электронов, а нижние уровни зоны проводимости заняты, переход электронов из валентной зоны в зону проводимости за счет энергии кванта, выделяющейся при рекомбинации, невозможен; эта энергия не поглощается электронами прилежащих к р-п переходу слоев, а выделяется в пространство в виде фотонов лучистой энергии. Частота излучения соответствует энергии фотона в узком диапазоне — от AW3 до AW3 + 26W.
Пусть энергия фотона равна энергии AW3. Тогда h\ — ДW3, откуда
Д^з v h ’
Учитывая, что длина волны Л, = —^, получим:
, ch
~ AW3’
где с — скорость света; h — постоянная Планка.
Следовательно, длина волны излучения тем меньше, чем больше ширина запрещенной зоны.
При этом наблюдается свечение определенного цвета, зависящего от материала светодиода. Различные типы светодиодов могут дать красное, оранжевое, желтое, зеленое, голубое свечение, а также инфракрасное излучение, позволяя перекрыть диапазон длин волн от 0,45 до 0,9 мкм.
Часть фотонов, испускаемых р-п переходом при рекомбинации, не выходит из кристалла во внешнее пространство, а пре-
Рис. 3.27. Устройство светодиода: а — плоская конструкция; б — полусферическая конструкция; в — условное графическое обозначение; г — внешний вид |
терпевает отражение от его поверхности и поглощается затем в объеме полупроводника. Отношение числа излученных во внешнее пространство фотонов к числу неосновных носителей заряда, инжектированных через р-п переход, называется квантовой эффективностью излучения, или квантовым выходом. Квантовый выход составляет 0,1—0,3 %.
Структура и конструкция простейшего светодиода, а также его условное графическое обозначение показаны на рис. 3.27. В кристалле сложного полупроводника создаются области п-типа и р-типа, на которых имеются невыпрямляющие контакты для присоединения наружных выводов. Кристалл помещается в корпус с прозрачным окном, через которое от р-п перехода исходит излучение; в окно может быть вставлена линза.
3.4.2. Характеристики и параметры светодиодов
Основными характеристиками светодиода являются вольт-ам- перная, яркостная и спектральная.
Вольт-амперная характеристика имеет такой же вид, как для обычного полупроводникового диода, но используется только ее прямая ветвь (рис. 3.28, а):
/пр = /(Цр).
Отличается она большим падением напряжения на светодиоде
в прямом направлении (3—6 В) из-за большей ширины Д№3.
Яркостная, или люкс-амперная, характеристика представляет собой зависимость яркости свечения В от проходящего через светодиод тока (рис. 3.28, б):
В = /(/).
Начальный участок этой характеристики нелинейный: при токе меньше порогового /пор яркость свечения очень мала и медленно возрастает с увеличением тока (практически люминесцен-
Рис. 3.28. Характеристики светодиода; а — вольт-амперная; б — яркостная;
в — спектральные
ция очень слабая). Этот участок не используется при работе светодиода. С увеличением тока от порогового значения характеристика имеет большой линейный участок, являющийся рабочим. На этом участке существует пропорциональность между яркостью свечения и током.
Изменение яркости свечения, приходящееся на единицу изменения тока, называют чувствительностью по яркости Во.
На линейном рабочем участке яркостной характеристики чувствительность по яркости во всех точках одинакова и определяет наклон рабочего участка характеристики.^горизонтальной оси.
Спектральная характеристика светодиода — это зависимость яркости излучения от длины волны излучаемого света (рис.
3.28, в). По вертикальной оси обычно откладывают относительную яркость В/Вмакс в процентах от максимальной.
Длина волны, на которой светодиод дает максимум излучения, зависит от материала: для светодиодов на основе фосфида галлия, дающих красное и красно-оранжевое свечение, максимум соответствует длине волны 0,68 мкм; для светодиодов, дающих зеленое свечение, — 0,54 мкм; для светодиодов на основе карби
да кремния с желтым свечением — 0,6 мкм, с желто-оранжевым свечением — 0,625 мкм.
Дата добавления: 2015-10-21; просмотров: 33 | Нарушение авторских прав
<== предыдущая лекция | | | следующая лекция ==> |