Студопедия
Случайная страница | ТОМ-1 | ТОМ-2 | ТОМ-3
АрхитектураБиологияГеографияДругоеИностранные языки
ИнформатикаИсторияКультураЛитератураМатематика
МедицинаМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогика
ПолитикаПравоПрограммированиеПсихологияРелигия
СоциологияСпортСтроительствоФизикаФилософия
ФинансыХимияЭкологияЭкономикаЭлектроника

Типовые моделирующие алгоритмы

Расчет надежности восстанавливаемых резервированных систем | Факторы, влияющие на надежность | Особенности отказов в дискретных устройствах ССУ | Основные определения | Структурные схемы восстанавливающих органов | Определение вероятности безотказной работы | Метод статистических испытаний | Сущность МСИ и реализации на ЭВМ случайного эксперимента | Разыгрывание дискретной случайной величины | Разыгрывание непрерывной случайной величин |


Читайте также:
  1. Алгоритмы вычисления ранних и поздних сроков свершения события.
  2. Алгоритмы обработки данных
  3. Алгоритмы функционирования систем сотовой связи
  4. Антиэйдж и лифтинг - омолаживающие и моделирующие лицо программы
  5. ВТО-15 Основные виды договора аренды судна. Типовые проформы тайм-чартера. Порядок передачи судна в тайм-чартер, расчет суммы фрахта от сдачи судна в аренду или суб-аренду
  6. Знаки навигационных створов и их типовые проекты.
  7. Типовые аварийные повреждения кузовов

Типовые алгоритмы МСИ имеют простую структуру. Проиллюстрируем ее на примерах.

Пусть требуется оценить среднее время безотказной работы изделия, предполагая, что известны характеристики безотказной работы каждого из элементов.

Если считать, что время безотказной работы каждого элемента t(к) - фиксированная величина, то вычислить время безотказной работы t изделия не составит труда. Например, для изделия, схематически изображенного на рис.5.4, в котором выход из строя одного элемента влечет за собой выход из строя всего изделия,

(5.9)

А для изделия, схематически изображенного на рис. 5.5, в котором один из элементов дублирован,

(5.10)

так как если, например, элемент 3 выйдет из строя, то изделие будет продолжать работать на одном элементе 4.

В действительности время безотказной работы любого элемента представляет собой случайную величину t(к). Когда говорят, что срок службы микросхемы равен 10000 часов, то это лишь среднее значение mt величины: всем известно, что одна микросхема отказывает быстрее, а другая (в точности такая же) работает дольше.

Если известны плотности распределений t(к) для каждого из элементов изделия, то mt можно определить методом статистических испытаний. В самом деле, для каждого элемента можно разыграть значение величины t(к) - пусть это будет t(к).

Затем по формуле (5.9) или (5.10) можно вычислить значение t случайной величины t(к). Повторив этот опыт N раз, можем считать, что

где ti - значение t, полученное в i-м опыте.

Необходимо заметить, что вопрос о распределении времени безотказной работы t(к) для отдельных элементов не так уж прост: для наиболее долговечных элементов организация эксперимента затруднительна, так как необходимо дождаться, пока выйдет из строя достаточно много элементов.

Приведенные примеры показывают, что методика расчета показателей надёжности проста по идее. Необходимо знать вероятностные характеристики всех элементов изделия и уметь вычислять интересующую нас величину, как функцию от параметров этих элементов. Тогда случайность параметров можно учесть путем моделирования на ЭВМ.

При моделировании можно получить гораздо больше полезной информации, а не только математическое ожидание и дисперсию интересующей нас величины.

Пусть, например, получено большое число N значений U1, U2,...,UN случайной величины U. По этим значениям можно построить приближенную плотность распределения U. Вопрос этот относится, по существу, к статистике, так как речь идет об обработке результатов экспериментов (только проведены они на ЭВМ). Поэтому ограничимся лишь конкретным примером.

Допустим, что всего получено N = 120 значений U1, U2, …, U120 случайной величины U, и все они заключены в пределах 1 < Ui < 6,5. Разобьем интервал 1 < x < 6,5 на 11 (любое число, не слишком большое и не слишком малое) равных интервалов длиной Dх = 0,5 и сосчитаем, сколько значений Ui попали в каждый интервал. Числа попаданий приведены на рис. 5.6.

Частота попадания в какой-либо интервал получается делением числа попаданий на N = 120. В данном примере частоты равны: 0,017; 0; 0,008; 0,I2; 0.20; 0,27; 0,14; 0,16; 0,06; 0.008, 0,0017.

Над каждым из интервалов разбиения построим прямоугольник, площадь которого равна частоте попадания Ui в этот интервал (рис.5.7).

Иначе говоря, высота каждого прямоугольника равна частоте, деленной на Dх. Полученную ступенчатую линию называют гистограммой. Гистограмма служит приближением к неизвестной плотности случайной величины U. Поэтому, например, площадь гистограммы, заключенная между х = 2,5 и х = 5,5 дает приближенное значение вероятности

Р { 2,5 < U < 5,5 }» 0,95.

Следовательно, на основании проведенного расчета (опыта) можно считать, что с вероятностью, приблизительно равной 0,95, величина U заключена в интервале 2,5 < U < 5,5. На рис. 5.7 для сравнения построен график плотности нормальной случайной величины x' с параметрами α = 3,85, s = 0,88.

Если по этой плотности вычислить вероятность того, что x′ заключена в интервале 2,5 < x' < 5,5, то получим довольно близкое значение, равное 0,91.

В заключение отметим, что все типовые моделирующие алгоритмы должны содержать блоки определения необходимого для достижения требующейся точности расчетов числа реализаций (см. п.5.2.5).

 

Вопросы для самоконтроля

1. Перечислить виды испытаний на надёжность.

2. Дать статистическое определение показателей безотказности.

3. Сущность метода статистических испытаний и его методическая погрешность.

4. Пояснить сущность определительных и контрольных испытаний на надёжность.

5. Пояснить типовые моделирующие алгоритмы

 


Дата добавления: 2015-09-05; просмотров: 48 | Нарушение авторских прав


<== предыдущая страница | следующая страница ==>
Определение необходимого числа реализации в имитационном эксперименте| Библиографический список

mybiblioteka.su - 2015-2024 год. (0.008 сек.)