Студопедия
Случайная страница | ТОМ-1 | ТОМ-2 | ТОМ-3
АрхитектураБиологияГеографияДругоеИностранные языки
ИнформатикаИсторияКультураЛитератураМатематика
МедицинаМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогика
ПолитикаПравоПрограммированиеПсихологияРелигия
СоциологияСпортСтроительствоФизикаФилософия
ФинансыХимияЭкологияЭкономикаЭлектроника

Особенности отказов в дискретных устройствах ССУ

Определение показателей надежности при постоянном общем резервировании | Определение показателей надежности при постоянном раздельном резервировании | Сравнительная оценка раздельного и общего постоянного резервирования | Определение показателей надежности при резервировании замещением | Потоки отказов и восстановлений | Показатели безотказности | Показатели ремонтопригодности | Комплексные показатели | Расчет надежности восстанавливаемых нерезервированных систем | Расчет надежности восстанавливаемых резервированных систем |


Читайте также:
  1. I. Анатомо-физиологические особенности детей преддошкольного возраста
  2. I. Причины и особенности объединения Руси
  3. II. Особенности заболеваемости ребенка преддошкольного возраста.
  4. V. ОСОБЕННОСТИ ПРЕДОСТАВЛЕНИЯ ТУРИСТСКИХ УСЛУГ
  5. XLII. Охрана труда при выполнении работ в устройствах релейной защиты и электроавтоматики, со средствами измерений и приборами учета электроэнергии, вторичными цепями
  6. XXI. Охрана труда при установке заземлений в распределительных устройствах
  7. XXIX. Охрана труда при выполнении работ в комплектных распределительных устройствах

В настоящее время в сложных системах все чаще находят применение вычислительные, управляющие и контролирующие устройства. Их основу составляют так называемые дискретные устройства, которые, в свою очередь, конструируютсяиз полупроводниковых приборов и интегральныхмикросхем.

Наиболее часто встречающимися дефектами полупроводниковых приборов и интегральных микросхем являются: дефекты соединений с основанием; дефекты оксидной изоляции, связанные с разрывом и замыканием слоев между собой и на корпус; ошибки монтажа: разрывы и замыкания цепей переходов и соединений между собой и на корпус; разрывы и замыкания цепей переходов и соединений между полюсами резисторов и транзисторов. Как показывает практика, указанные дефекты носят логический характер.

Под классом логических неисправностей понимают модели физических дефектов логических элементов, входящих в состав дискретного устройства, а также дефектов связей междуними, сводящихся к изменению логических функций.

В классе логических неисправностей наиболее распространенными являются константные неисправности. Это неисправности элементов и связей, эквивалентные такому изменению функций, реализуемых логическими элементами, которое соответствует подаче на одинили несколько входов элемента, либо фиксации на его выходе постоянного сигнала (константы) 0 или 1.

Константные неисправности моделируются фиксированием букв формулы элемента (схемы) константами 1 и 0. Например:

,

Они отражают логическое проявление дефектов, а не их конкретное физическое содержание, которое в зависимости от структуры и физической природы элементов может быть самым разнообразным как по числу отказавших компонент, так и по их характеру. Проявление константной неисправности связано с фиксированием букв формулы элемента константами 0 (1). Неисправность, проявление которой сводится к фиксации функции элемента или одной буквы формулы константой 0 (1), называется одиночной константной неисправностью. Так как буква формулы элемента является моделью его цепи, то одиночная константная неисправность представляет собой модель некоторого дефекта в соответствующей цепи. Анализ влияния логических неисправностей на функцию элемента показывает, что каждая логическая неисправность соответствует одной или нескольким константным неисправностям.

В контактных дискретных устройствах неисправности возникают в момент размыкания (замыкания) контактов, а в бесконтактных - в момент перехода из одного состояния в другое. Поэтому на практике для расчетов надёжности непрерывное время заменяют дискретным, мерой которого является уже не число часов t, а число переключений n, (или число переходов, число циклов работы).


Дата добавления: 2015-09-05; просмотров: 216 | Нарушение авторских прав


<== предыдущая страница | следующая страница ==>
Факторы, влияющие на надежность| Основные определения

mybiblioteka.su - 2015-2024 год. (0.006 сек.)