Студопедия
Случайная страница | ТОМ-1 | ТОМ-2 | ТОМ-3
АрхитектураБиологияГеографияДругоеИностранные языки
ИнформатикаИсторияКультураЛитератураМатематика
МедицинаМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогика
ПолитикаПравоПрограммированиеПсихологияРелигия
СоциологияСпортСтроительствоФизикаФилософия
ФинансыХимияЭкологияЭкономикаЭлектроника

ІІ. Опис приладів і методика вимірювання. Знайти n безпосередньо за кутом падіння a та кутом заломлення b складно

І. Теоретичні відомості | ІІ. Опис приладів і методика вимірювання | III. Хід роботи | І. Теоретичні відомості | І. Теоретичні відомості | Завдання 1. Вивчення поздовжньої сферичної аберації. | ВИЗНАЧЕННЯ ЧИСЛОВОЇ АПЕРТУРИ ТА РОЗДІЛЬНОЇ ЗДАТНОСТІ МІКРОСКОПА | III. Хід роботи | І. Теоретичні відомості | ІІ. Опис приладів і методика вимірювання |


Читайте также:
  1. Nbsp;   ІІ. Опис приладів і методика вимірювання
  2. Визуальное распознавание характера и эффективное управление поведением людей – методика «7 радикалов».
  3. Вимірювання та оцінювання вигід і витрат
  4. ГЛАВА 4. МЕТОДИКА ФОРМИРОВАНИЯ целевых ПРОЕКТОВ
  5. ГЛАВА 4. МЕТОДИКА ФОРМИРОВАНИЯ целевых ПРОЕКТОВ
  6. Для расчета приведенных показателей использовалась методика, рекомендованная ФКЦБ России.
  7. Звіт про прибутки та збитки, його зміст і методика складання.

Знайти n безпосередньо за кутом падіння a та кутом заломлення b складно, оскільки кути важко виміряти. Тому в цій лабораторній роботі показник заломлення твердої прозорої плоскопаралельної пластинки, крізь яку проходить біле світло, визначається за допомогою мікроскопа та мікрометра. Мікроскоп складається з двох основних частин - об’єктива та окуляра. Об’єктив та окуляр розташовані в трубі, що називається тубусом мікроскопа. Тубус закріплено на штативі за допомогою особливого пристосування, що називається кремальєрою. Тубус можна переміщати для фокусування мікроскопа. Часто буває два пристосування для переміщення тубуса: одне для грубих, а друге для точних переміщень (крок гвинта - долі міліметра). Об’єктив мікроскопа закріплено в нижній, а окуляр в верхній частині тубуса. Предмет розташовується на столику під об’єктивом. Об’єктив мікроскопа дає збільшене, дійсне і обернене зображення.

Окуляр дає збільшене, уявне і пряме зображення. Мікроскоп в цілому дає збільшене, уявне і обернене зображення. Схему ходу променів у мікроскопі показано на рис.2.

Рис.2.Хід променів в мікроскопі.

Предмет розташовується між фокусом та подвійним фокусом об’єктива. А окуляр розташовується на такій віддалі від об’єктива, щоб зображення, яке дає об’єктив, знаходилось між фокусом окуляра і самим окуляром.

Розглянемо хід променів у плоскопаралельній пластинці товщиною d, вертикальний розріз якої подано на рис.3. Нанесемо одну подряпину у вигляді прямої лінії на нижню поверхню (т.В), а другу ‑ перпендикулярну до неї на верхню поверхню (т.Е). Усі точки цієї подряпини будуть джерелами розсіяних променів, частина з яких потрапляє до об’єктива мікроскопа, розташованого над пластинкою. Нехай два крайні промені АС та ДS, кут розходження яких обмежений розмірами об’єктива, вийшли з т.В, і, заломившись на межі розділу середовищ, потрапляють в об’єктив. Для спостерігача, який дивиться вертикально вниз уздовж нормалі ВЕ, промені АС та ДS перетнуться в т.О – уявному зображенні т.В. Сукупність таких точок дасть уявне зображення подряпини. Отже, уявна товщина пластинки d’, яку бачимо в мікроскопі, менша за дійсну товщину d.

Вимірявши за допомогою мікроскопа уявну товщину пластинки d’ та за допомогою мікрометра дійсну товщину d, можна обчислити відносний показник заломлення пластинки. А саме: з DВДЕ: ДЕ = ВЕ×tgb = d ×tgb; з DОДЕ: ДЕ = ОЕ×tgb = d¢×tgb. Врахувавши, що при малих кутах a та b sinb» tgb, sina» tga, одержимо

. (5)

Отже, абсолютний показник заломлення даної прозорої пластинки можна обчислити за формулою

, (6)

де d – дійсна товщина; d ¢ - уявна товщина пластинки.


Дата добавления: 2015-10-02; просмотров: 68 | Нарушение авторских прав


<== предыдущая страница | следующая страница ==>
І. Теоретичні відомості| IV. Хід роботи

mybiblioteka.su - 2015-2024 год. (0.007 сек.)