Студопедия
Случайная страница | ТОМ-1 | ТОМ-2 | ТОМ-3
АрхитектураБиологияГеографияДругоеИностранные языки
ИнформатикаИсторияКультураЛитератураМатематика
МедицинаМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогика
ПолитикаПравоПрограммированиеПсихологияРелигия
СоциологияСпортСтроительствоФизикаФилософия
ФинансыХимияЭкологияЭкономикаЭлектроника

Световая и электронная микроскопия

Нефелометрия | Нефелометрическим методом | Турбидиметрия | Определение размера частиц, не подчиняющихся закону Рэлея | Определение размера частиц, подчиняющихся закону Рэлея |


Читайте также:
  1. АВАРИЙНАЯ, ПРЕДУПРЕДИТЕЛЬНАЯ СВЕТОВАЯ СИГНАЛИЗАЦИЯ
  2. АВАРИЙНАЯ, ПРЕДУПРЕДИТЕЛЬНАЯ СВЕТОВАЯ СИГНАЛИЗАЦИЯ (продолжение)
  3. Глава 6.4 СВЕТОВАЯ РЕКЛАМА, ЗНАКИ И ИЛЛЮМИНАЦИЯ
  4. Дельфинья Световая Камера Балансировки Мозга
  5. ЗВУКОВАЯ, СВЕТОВАЯ СИГНАЛИЗАЦИЯ ПАДЕНИЯ ОБОРОТОВ
  6. Классическая электронная теория
  7. Кокрановская электронная бибилиотека

Наиболее информативными и поэтому широко используемыми методами определения дисперсности и формы частиц являются световая и электронная микроскопия. С их помощью можно непосредственно наблюдать частицы и устанавливать их размеры, т.е. исследовать наиболее широкий круг дисперсных систем как по дисперсности, так и по агрегатному состоянию фаз. Нижний предел световой микроскопии – до 100 нм, электронной микроскопии – до 2 - 5 нм.

Образец обычно берется в виде очень тонкого прозрачного слоя или среза; его кладут на прямоугольную стеклянную пластинку, называемую предметным стеклом, и накрывают сверху более тонкой стеклянной пластинкой меньших размеров, называемой покровным стеклом.

Образец часто окрашивают химичес-кими веществами, чтобы увеличить Конт-раст. Предметное стекло кладут на предметный столик так, чтобы образец находился над центральным отверстием столика. Методы световой микроскопии классифицируют по способам освещения объектов исследования. Освещение в проходящем свете применяют при рассмот-рении деталей тонких объектов. Для многих объектов применяют микроскопию с использованием падающего света (в отра-женном свете). Электронная микроскопия имеет существенный недостаток: она применима только для исследования сухих образцов и не может быть использована для наблюдения их в жидких средах. Этот недостаток отсутствует у опти-ческих методов, основанных на рассеянии света (опалесценции). Они не уступают электронной микроскопии и по чувствитель-ности. Р и с. 1. Типичный микро-скоп: 1 – штатив; 2 – шарнир для наклона; 3 – тубусодер-жатель; 4 – ручка микромет-ренной регулировки; 5 – руч-ка грубой регулировки; 6 – окуляр; 7 – держатель окуляра; 8 – тубус; 9 – ре-вольверная головка; 10 – объ-ективы; 11 – предметный столик; 12 – конденсор; 13 – нижний держатель; 14 – зеркало

Дата добавления: 2015-07-11; просмотров: 100 | Нарушение авторских прав


<== предыдущая страница | следующая страница ==>
Влияние случайного шума на воспроизводимость анализа.| Ультрамикроскопия

mybiblioteka.su - 2015-2024 год. (0.006 сек.)