Студопедия
Случайная страница | ТОМ-1 | ТОМ-2 | ТОМ-3
АрхитектураБиологияГеографияДругоеИностранные языки
ИнформатикаИсторияКультураЛитератураМатематика
МедицинаМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогика
ПолитикаПравоПрограммированиеПсихологияРелигия
СоциологияСпортСтроительствоФизикаФилософия
ФинансыХимияЭкологияЭкономикаЭлектроника

Просвечивающие электронные микроскопы.

Пленки поверхностно-активных веществ. | Пленки на основе коллоидных растворов. | Золь-гель технология. | Зондовые нанотехнологии. | СТМ нанолитография с лазерной активацией. | Сканирующая туннельная микроскопия. | Атомно-силовая микроскопия. | Ближнепольная сканирующая оптическая микроскопия. | В пределе при | Конструкции масс-анализаторов. |


Читайте также:
  1. Растровые электронные микроскопы.
  2. Электронные версии учебных изданий доступны на сайтах крупных издательств
  3. Электронные замки. Ключи с магнитной полосой.
  4. ЭЛЕКТРОННЫЕ КОМПОНЕНТЫ. ПРЕДОТВРАЩЕНИЕ ОТКАЗОВ
  5. Электронные компоненты. Предотвращение отказов
  6. Электронные ресурсы

 

Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ) являются универсальными приборами многоцелевого назначения. Просвечи­вающие электронные микроскопы используют волновые свойства движущихся электронов. Схема просвечивающего микроскопа при­ведена на рис. 1.33.

 

Рис. 1.33. Схема просвечивающего электронного микроскопа.

 

Электронный пучок формируется электронной пушкой и конденсорными линзами с апертурой и фокусируется на исследуемом образце. Образец устанавливается на нанопозиционере, имеющем три сте­пени свободы. С помощью электромагнитной линзы объектива и линзы проектора электронное изображение фокусируется на люминесцент­ный экран. Электроны возбуждают экран и формируют увеличенное изображение исследуемого объекта, которое может регистрироваться телевизионной камерой и камерой на приборах с зарядовой связью.

При ускоряющем напряжении до 600 кВ можно получить разре­шение порядка ангстрема.

Просвечивающие электронные микроскопы используют для на­блюдения изображения объектов в светлом и темном полях, а также изучения структуры объектов методом электронографии. В ПЭМ ис­пользуются электроны энергией от 1 кэВ до 5 МэВ, позволяющие про­светить электронным пучком объекты толщиной до десятка наномет­ров. Поверхностная геометрическая структура в ПЭМ исследуется с помощью реплик. Этот метод вызывает определенные неудобства.

Разработаны конструкции сканирующего просвечивающего мик­роскопа, в котором исследуемый образец сканируется тонким элек­тронным лучом.

Исследования атомного строения вещества удобно проводить с помощью электронографов, которые реализованы по электронно­оптической схеме ПЭМ. Узкий электронный пучок в электронографе направляется на исследуемую наноструктуру. На люминес­центном экране создается дифракционное изображение — электронограмма. На основе измерения рефлексов от структуры исследуемого объекта проводятся вычисления и формируется пред­ставление об объекте.

 

 


Дата добавления: 2015-10-28; просмотров: 49 | Нарушение авторских прав


<== предыдущая страница | следующая страница ==>
Вторично ионная масс-спектроскопия.| Растровые электронные микроскопы.

mybiblioteka.su - 2015-2024 год. (0.007 сек.)