Студопедия
Случайная страница | ТОМ-1 | ТОМ-2 | ТОМ-3
АрхитектураБиологияГеографияДругоеИностранные языки
ИнформатикаИсторияКультураЛитератураМатематика
МедицинаМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогика
ПолитикаПравоПрограммированиеПсихологияРелигия
СоциологияСпортСтроительствоФизикаФилософия
ФинансыХимияЭкологияЭкономикаЭлектроника

Исследование динамических характеристик логических элементов

ДЕРЖАВНИЙ ВИЩИЙ НАВЧАЛЬНИЙ ЗАКЛАД | ИЗУЧЕНИЕ ОСНОВНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ЛОГИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ ОСНОВНЫХ ТИПОВ | Описание микросхем, входящих в состав стенда и используемых для снятия переходной характеристики | Двухвходового элемента И-НЕ | Исследование базовых логических элементов | Исследование базовых логических элементов | Приложение. | Исследование асинхронного R-S триггера | Исследование синхронного R-S триггера | Исследование D-триггеров |


Читайте также:
  1. I Мышцы спины (названия, функциональная характеристика).
  2. I. Общая характеристика и современное состояние системы обеспечения промышленной безопасности
  3. I. Общая характеристика направленности и система мотивации человека
  4. I. Понятие малой группы. Виды и характеристика малых групп
  5. I. Темперамент, его типы и характеристики
  6. I. Функциональные характеристики объекта закупки
  7. II. Измерение амплитудной характеристики усилителя и определение его динамического диапазона

Исследование динамических характеристик производится с помощью программного пакета ELECTRONICS WORKBENCH MULTISIM 8.

1) запустите на компьютере ELECTRONICS WORKBENCH MULTISIM 8 и составьте схему в соответствии с рис. 1.1,

 

Рис. 1.1. Структурная схема стенда для испытаний

применив в качестве D1 ТТЛ элементы И-НЕ 74LS00.

Запустите режим имитации (simulation) и измерьте с помощью осциллографа длительность отрицательных импульсов на выходе DA1:B.

Начертите изображение с экрана осциллографа. t логического элемента равно измеренной длительности импульса.

2) запустите на компьютере ELECTRONICS WORKBENCH MULTISIM 8 и составьте схему в соответствии с рис. 1.1, применив в качестве D1 КМОП элементы И-НЕ 4011BP.

Запустите режим имитации (simulation) и измерьте с помощью осциллографа длительность отрицательных импульсов на выходе DA1:B.

Начертите изображение с экрана осциллографа. t логического элемента равно измеренной длительности импульса.

3) запустите на компьютере ELECTRONICS WORKBENCH MULTISIM 8 и составьте схему в соответствии с рис. 1.2,

Рис. 1.2. Структурная схема стенда для испытаний.

 

применив в качестве D1 ТТЛ элемент И-НЕ 74LS00, а в качестве D2 ТТЛ элемент ИЛИ-НЕ 74LS02.

Запустите режим имитации (simulation) и измерьте с помощью осциллографа длительность положительных импульсов на выходе DA2.

Начертите изображение с экрана осциллографа. t логического элемента равно измеренной длительности импульса.

4) запустите на компьютере ELECTRONICS WORKBENCH MULTISIM 8 и составьте схему в соответствии с рис. 1.2, применив в качестве DА1 КМОП элемент И-НЕ 4011BP, а в качестве DA2 – 4001BD.

Запустите режим имитации (simulation) и измерьте с помощью осциллографа длительность положительных импульсов на выходе DA1:С.

Начертите изображение с экрана осциллографа. t логического элемента равно измеренной длительности импульса.

 

Содержание отчета

В отчете должны быть приведены:

- теоретический материал в объеме, достаточном для успешной защиты выполненной лабораторной работы;

- краткое описание исследуемых микросхем;

- схемы и результаты экспериментальных исследований в виде таблиц, графиков и численных значений, эскизы осциллограмм;

- выводы по лабораторной работе.

 


Дата добавления: 2015-07-20; просмотров: 100 | Нарушение авторских прав


<== предыдущая страница | следующая страница ==>
Исследование статических характеристик логических элементов| Приложение

mybiblioteka.su - 2015-2024 год. (0.006 сек.)