|
Читайте также: |
Измерение малых толщин по интерференционным линиям в спектре
Цель работы – познакомиться с практическим применением интерференционных полос равного хроматического порядка для измерения малых толщин пластинок. Сравнить качественные характеристики наблюдаемых двухлучевой и многолучевой интерференционных картин.
При отражении монохроматического света с длиной волны от тонкой прозрачной пленки между лучами, отраженными от ее верхней и нижней поверхностей, возникает некоторая разность хода.
, (1)
где 
– толщина пленки;
– показатель преломления вещества пленки;
– угол преломления.
В зависимости от значений 
получается разнообразный интерференционный эффект. Условием максимума или минимума отражения (без учета возможной потери полуволны) будет
(2)
где 
– целое число, причем четные значения соответствуют максимумам, а нечетные – минимумам.
В случае освещения тонкой пленки белым светом отраженный свет будет иметь различную интерференционную окраску. Однако при больших значениях интерференционная окраска не наблюдается [1, 3]. Но если рассматривать этот свет в спектроскоп, то в спектре будет наблюдаться система светлых и темных полос равного хроматического порядка [1, 2]. Эти полосы часто используются для измерений толщины тонких пластинок.
Пусть разности хода для длин волн 
и 
будут равны:
(3)
(4)
где 
и 
– показатели преломления для длин волн 
и ,
и – соответствующие углы преломления,
и 
– целые числа, соответствующие номерам порядков интерференции.
Из выражения (1) имеем
(5)
Из выражений (3) и (4) находим значение
(6)
Дата добавления: 2015-07-20; просмотров: 114 | Нарушение авторских прав
| <== предыдущая страница | | | следующая страница ==> |
| Построение градуировочной характеристики | | | Подставляя (6) в (5), имеем |