Студопедия
Случайная страница | ТОМ-1 | ТОМ-2 | ТОМ-3
АвтомобилиАстрономияБиологияГеографияДом и садДругие языкиДругоеИнформатика
ИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеталлургияМеханика
ОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРелигияРиторика
СоциологияСпортСтроительствоТехнологияТуризмФизикаФилософияФинансы
ХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника

Профессор ИФК Умаров Ф.Ф.

Читайте также:
  1. Генерал и профессор посмотрели друг другу в глаза.
  2. Глaвa 56. Двa профессорa
  3. Глава семнадцатая. РАЗГОВОР С ПРОФЕССОРОМ СЁМИНЫМ
  4. Глава четырнадцатая. ПРИЕЗД ПРОФЕССОРА СЁМИНА
  5. Докт. психол. наук, профессор, главный науч. сотр. ИП РАН, Москва
  6. Доктор медицинских наук, профессор А.Турова и врач Э.Сапожникова
  7. Доктора исторических наук, профессора М.Ю. Макаренко

 

Ключи к промежуточному экзамену по дисциплине по выбору

Основы нанотехнологий» для студентов 3 курса (ХТОВ).

Учебный год (осенний семестр).

 

 

Зад/Вар                    
  B B B C B C A B C C
  A C B D B D C C C C
  D B A A A A A C A C
  B D E B D E A C D C
  D A E B C D B A B E
  C A C B A D B D A D
  D C A B C A D B B A
  D D D A D B A C D C
  C A B B B C A E A A
  B B C B C A C B C A
  C C A A B A E C C A
  B D D D C C E C B D
  A B C B C C A D A B
  A B C C E E B E A A
  D B C C B B A A A B
  C C C C C B C E A C
  A C C D D D D D E C
  A A B C D B B B B B
  C A C D C A B D A C
  A C C C C B B B B D

 

ТЕСТЫ

к финальному экзамену по курсу «Основы нанотехнологий»

2012-2013 учебный год (осенний семестр)

 

  1. Величина зазора «зонд-поверхность образца» в СТМ может поддерживаться постоянной с точностью

A) до 10-2 нм; B) до 10-1 нм; C) до 10-4 нм; D) до 10-3 нм.

 

2. Диапазон сил, используемых в АСМ для исследования структуры поверхностей с атомным разрешением составляет

A) (10-2 ÷10-5)Н; B) (10-5 ÷10-12)Н; C) (10-3 ÷10-10)Н; D) (10-4 ÷10-8)Н.

 

3. Радиус закругления современных АСМ-зондов составляет

A) до 10 нм; B) 10÷50 нм; C) 1÷50нм; D) 1÷20 нм.

 

4. Частоты основных мод кантилевера АСМ лежат в диапазоне

A) 10÷1000кГц; B) 1÷100 кГц; C) 1÷50кГц; D) 10÷500кГц.

 

  1. Типичные значения добротности кантилевера при работе в вакууме составляют

A) (102 ÷105); B) (105 ÷1010); C) (103 ÷104); D) (104 ÷108).

 

6. Добротность кантилевера при работе на воздухе лежит в интервале

A) 300÷500; B) 100÷500; C) 100÷300; D) 200÷400.

 

7. Добротность кантилевера при работе в жидкости лежит в интервале

A) 30÷50; B) 10÷100; C) 100÷200; D) 200÷400.

 

8. Современные АСМ имеют разрешение по вертикали и в плоскости поверхности, соответственно

A) 0.1 и 0.2 нм; B) 0.05 и 0.05нм; C) 0.02 и 0.5нм; D) 0.02 и 0.02нм.

 

9. Коэффициенты жесткости кантилеверов АСМ варьируются в диапазоне

A) 10-2 ÷10-1 Н/м; B) 10-1 ÷10 Н/м; C) 10-3÷10Н/м; D) 1÷10Н/м.

 

10. Резонансные частоты кантилевера АСМ находятся в диапазоне

A) 50÷500кГц; B) 10÷1000 кГц; C) 1÷50кГц; D) 10÷500кГц.

 

 

КЛЮЧИ К ФИНАЛЬНОМУ ЭКЗАМЕНУ (ФЭ)

по курсу «Физика 2» для специальностей ВТПО, ИС, АУ ФИТ

(3 кредита-2 курс) __ декабря 2009г.

 

Вар/№зад            
Вар.1 (27) C C A C B B
Вар.2 (26) B D D D D C
Вар.3 (25) C A A B D A
Вар.4 (24) A D B B D C
Вар.5 (23) B A A C B B
Вар.6 (22) B C D D E B
Вар.7 (21) C B D C B A
Вар.8 (20) E E A D D C
Вар.9 (19) D C C D A B
Вар.10 (18) C D A C B C
Вар.11 (17) E B A C B D
Вар.12 (16) C C B C B A
Вар.13 (15) C C A B D A
Вар.14 (14) B B B D C A
Вар.15 (13) D E B B A A
Вар.16 (12) D E B C C D
Вар.17 (11) C A B A E B
Вар.18 (10) D C D C B E
Вар.19 (9) C C E D B B
Вар.20 (8) C D C A B B
Вар.21 (7) B C E C B A
Вар.22 (6) B B D D A C
Вар.23 (5) A B D B A C
Вар.24 (4) D A C A B A
Вар.25 (3) D E A D E A
Вар.26 (2) B C C A C D
Вар.27 (1) C B B C C C

 

Ключи к тестам финального экзамена по курсу «Физика 2»


Дата добавления: 2015-07-24; просмотров: 56 | Нарушение авторских прав


Читайте в этой же книге: ФИО студента__________________ Группа________________________ | ФИО студента__________________ Группа________________________ | ФИО студента__________________ Группа________________________ | ФИО студента__________________ Группа________________________ | ФИО студента__________________ Группа________________________ | ФИО студента__________________ Группа________________________ | ФИО студента__________________ Группа________________________ | Лекция 1. Основы атомно-силовой микроскопии. | Лекция 6. Сканирующая зондовая микроскопия в жидкостях | Лекция 7. Ближнепольная микроскопия и литография |
<== предыдущая страница | следующая страница ==>
ФИО студента__________________ Группа________________________| Учебный год (осенний семестр)

mybiblioteka.su - 2015-2024 год. (0.007 сек.)